hxing

Spyglass CDC工具使用（三）

摘要：最近一直在搞CDC (clock domain crossing) 方面的事情，现在就CDC的一些知识点进行总结。做CDC检查使用的是Spyglass工具。以下内容转载自：Spyglass之CDC检查（3） - 代码先锋网 (codeleading.com) 文章目录 Clock_info03a 阅读全文

posted @ 2022-07-07 15:28 hxing 阅读(3396) 评论(0) 推荐(0)

Spyglass CDC工具使用（二）

摘要：最近一直在搞CDC (clock domain crossing) 方面的事情，现在就CDC的一些知识点进行总结。做CDC检查使用的是Spyglass工具。以下内容转载自：Spyglass检查之CDC（2） | 码农家园 (codenong.com) 文章目录 Clock_info01 Reset 阅读全文

posted @ 2022-07-07 15:26 hxing 阅读(2001) 评论(0) 推荐(0)

常用功能语句归纳

摘要：归纳一些常用的功能语句，方便在仿真中使用。 1. 文件的读取写入 task tc_temp;begin reg [15:0] data_0; reg [15:0] data_1; reg [15:0] data_2; integer js; integer file_wr_0; integer fi 阅读全文

posted @ 2022-04-29 09:48 hxing 阅读(310) 评论(0) 推荐(0)

PT的常用命令

摘要：归纳常用的PT命令，便于工作中应用。 1. 报时序的命令 report_timing -from A -to [get_clocks {clkA}] -delay_type min report_timing -from B -to [get_ports {B}] -delay_type min m 阅读全文

posted @ 2022-04-28 14:32 hxing 阅读(2551) 评论(0) 推荐(0)

SDC细节归纳

摘要：能否写出一份严谨的SDC约束文件，决定了芯片tapeout后数字电路能否正常工作，或者少一些bug。所以写好SDC约束文件，是芯片设计的关键一步。因此，归纳、整理SDC约束的细节要点很重要，有助于减少出错的风险。 1.时钟group划分 create_clock -period xxxx [get 阅读全文

posted @ 2022-04-28 14:15 hxing 阅读(812) 评论(0) 推荐(0)

cvs 常见命令

摘要：一、cvs上传一个新的工程到server 假如上传目录test到xxxx_project下1. copy test到xxxx_project2. 删除test目录及子目录下的CVS目录3. 在xxxx_project下输入命令:cvs add test4. 在test目录下输入命令：find . | 阅读全文

posted @ 2022-02-17 11:45 hxing 阅读(374) 评论(0) 推荐(0)

网表里修改寄存器默认值（二）

摘要：在网表里修改寄存器默认值（一）里面，提到两种修改寄存器默认值的方式。我在我的项目里使用了第二种方式，即Q 跟 QN 端互换，D端取反。同时，在RTL里修改了该寄存器的默认值。但是在做formality时仍然比对不过。百思不得其解，检查了又检查，依然找不到原因，遂请教了大牛。经过大牛的查看，分析出阅读全文

posted @ 2022-02-10 18:00 hxing 阅读(656) 评论(0) 推荐(0)

spare gate的使用

摘要：在做eco时，需要用到spare gate单元。一般spare gate 是单独放到一个module，网表里例化了这个module，那怎么使用呢？请教了一个技术大牛，提供了操作方法。一种方式是给spare gate的模块增加pin，引线引出来，连到需要用到的地方。另一种方式是直接拿出去用，阅读全文

posted @ 2022-02-09 17:34 hxing 阅读(254) 评论(0) 推荐(0)

网表里修改寄存器默认值（一）

摘要：在做eco时，需要修改寄存器的默认值。那如何操作呢？请教了一个技术大牛，提供了操作方法。主要的操作方式有以下两种：方式一就是取反两次，保证寄存器Q端值不变，只是复位值取反了。方式二D端取反了，电路里使用QN端，但是要注意后面的逻辑是否正确。阅读全文

posted @ 2022-02-09 17:25 hxing 阅读(610) 评论(0) 推荐(1)

DFT scan chain 介绍

摘要：现代集成电路的制造工艺越来越先进，但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制，甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废，为了能有效的检测出生产中出现的废片，需要用到扫描链测试（scan chain），由此产生了可测性设计即 DFT flow。注意scan test 只能检测出制造瑕疵，无法检阅读全文

posted @ 2021-08-15 17:45 hxing 阅读(7935) 评论(1) 推荐(2)

导航

公告