摘要:
半导体二极管三极管静态参数测试仪系统STD2000X能测很多电子元器件静态参数以及IV曲线扫描 如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs,Diodes,MOSFETs,HEMT,BJTs,SCRs,光耦,继电器,稳压器...... 可以外接夹具、工装、探针台、分选机、编带机、机械手 高压源 阅读全文
posted @ 2025-12-05 17:15
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