2025年10月
IV曲线追踪扫描仪&半导体图示仪
摘要： IV曲线追踪扫描仪&半导体图示仪能测IGBT. Mosfet. Diode. BJT...... STD2000X—IV曲线追踪扫描仪系统能测试很多电子元器件的静态直流参数（如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压 阅读全文
posted @ 2025-10-24 15:15 FORCREAT-苏州永创 阅读(41) 评论(0) 推荐(0)
半导体静态电性测试系统_STD2000X_苏州永创智能
摘要： 苏州永创智能 半导体静态电性测试系统_STD2000X 基础信息 测试分析：功率器件研发设计阶段的初始测试 失效分析：失效器件测试，失效机理，设计方案改善 选型配对：器件焊接PCB之前测试，按器件一致性分类配对 来料检验：质量部对入厂器件进行抽检/全检，把控良品率 量产测试：连接机械手、扫码枪、分选 阅读全文
posted @ 2025-10-23 16:38 FORCREAT-苏州永创 阅读(40) 评论(0) 推荐(0)
半导体功率器件静态参数测试仪系统设备STD2000X在半导体领域和制造领域的详细应用
摘要： 半导体功率器件静态参数测试仪系统STD2000X能测很多电子元器件静态参数以及IV曲线扫描 如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器...... 可以外接夹具、工装、探针台、分选机、编带机、机械手 高压源 14 阅读全文
posted @ 2025-10-23 10:49 FORCREAT-苏州永创 阅读(39) 评论(0) 推荐(0)
半导体静态参数测试仪系统设备STD2000X在半导体领域和制造领域的详细应用
摘要： 半导体静态参数测试仪系统设备STD2000X能测很多电子元器件静态参数以及IV曲线扫描 如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器...... 可以外接夹具、工装、探针台、分选机、编带机、机械手 高压源 1400 阅读全文
posted @ 2025-10-23 10:46 FORCREAT-苏州永创 阅读(58) 评论(0) 推荐(0)