2025年11月
精准调控等离子体的“节奏大师”：探秘正负不对称双极性脉冲电源
摘要： 睿能·非衡_系列 正负不对称双极性脉冲电源 PPS±feih 在现代制造业与科研领域，从智能手机的金属光泽表面，到切削工具上坚硬的保护涂层，再到芯片内部纳米级的绝缘薄膜——这些看似普通的表面背后，都离不开一项关键工艺：真空镀膜。而在实现高质量镀膜的过程中，一种创新的正负不对称双极性脉冲电源技术正在悄 阅读全文
posted @ 2025-11-05 15:44 FORCREAT-苏州永创 阅读(10) 评论(0) 推荐(0)
苏州永创 睿能·非衡_系列 正负不对称双极性脉冲电源
摘要： 苏州永创睿能·非衡_系列 正负不对称双极性脉冲电源 PPS±feih 正负不对称双极性脉冲电源 1. 产品概述 正负不对称双极性脉冲电源PPS±feih苏州永创智能科技有限公司开发生产。睿能·非衡系列电源专为高级镀膜工艺而设计的高精度、高性能电源解决方案。 正负不对称双极性脉冲电源PPS±feih它 阅读全文
posted @ 2025-11-04 09:40 FORCREAT-苏州永创 阅读(29) 评论(0) 推荐(0)
半导体静态电性测试系统如何实现对各类电子元器件的评估测试？
摘要： 一、什么是半导体静态电性测试？ 简单来说，半导体静态电性测试就是通过施加电压、电流，测量器件在不同电气条件下的响应，从而判断其性能是否符合设计标准。测试内容包括： 静态参数：如漏电流、阈值电压、饱和压降等； 动态参数：如开关时间、反向恢复时间等； IV曲线：描绘电流与电压之间的关系，直观反映器件工作 阅读全文
posted @ 2025-11-03 11:23 FORCREAT-苏州永创 阅读(17) 评论(0) 推荐(0)
2025年10月
从实验室到产线：苏州永创-STD2000X如何统一分立器件静态参数测试仪的“语言”？
摘要： 在半导体设计与制造中，静态参数测试是验证器件性能与可靠性的基石。无论是研发阶段的特性分析，还是量产中的质量控制，对器件直流参数、IV曲线、动态响应等关键指标的精准捕捉，都直接影响产品的最终表现。 然而，传统测试系统往往面临精度不足、兼容性差、扩展性弱等挑战，尤其在面对第三代半导体材料（如SiC、Ga 阅读全文
posted @ 2025-10-30 14:56 FORCREAT-苏州永创 阅读(63) 评论(0) 推荐(1)
探秘半导体“体检中心”：如何为一颗芯片做静态参数测试？
摘要： —— 走进-苏州永创-STD2000X半导体电性测试系统的技术世界 在现代电子设备中，半导体器件如同人体的“心脏”与“神经”，其性能直接决定了整机的可靠性与效率。而如何对这些微小的“电子器官”进行全面、精准的“体检”，成为了半导体研发、制造与质量控制中不可或缺的一环。今天，我们就来聊聊半导体测试背后 阅读全文
posted @ 2025-10-29 10:01 FORCREAT-苏州永创 阅读(41) 评论(0) 推荐(0)
测试领域，苏州永创-STD2000X-半导体分立器件电参数测试仪系统能测试哪些元器件和参数
摘要： 半导体分立器件电参数测试仪系统测试哪些参数 测试参数主要是静态参数，如下所示 能测很多电子元器件静态参数以及IV曲线扫描。如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器......可以外接夹具、工装、探针台、分选机、 阅读全文
posted @ 2025-10-27 15:29 FORCREAT-苏州永创 阅读(4) 评论(0) 推荐(0)
IV曲线追踪扫描仪&半导体图示仪
摘要： IV曲线追踪扫描仪&半导体图示仪能测IGBT. Mosfet. Diode. BJT...... STD2000X—IV曲线追踪扫描仪系统能测试很多电子元器件的静态直流参数（如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压 阅读全文
posted @ 2025-10-24 15:15 FORCREAT-苏州永创 阅读(19) 评论(0) 推荐(0)
半导体静态电性测试系统_STD2000X_苏州永创智能
摘要： 苏州永创智能 半导体静态电性测试系统_STD2000X 基础信息 测试分析：功率器件研发设计阶段的初始测试 失效分析：失效器件测试，失效机理，设计方案改善 选型配对：器件焊接PCB之前测试，按器件一致性分类配对 来料检验：质量部对入厂器件进行抽检/全检，把控良品率 量产测试：连接机械手、扫码枪、分选 阅读全文
posted @ 2025-10-23 16:38 FORCREAT-苏州永创 阅读(26) 评论(0) 推荐(0)
半导体功率器件静态参数测试仪系统设备STD2000X在半导体领域和制造领域的详细应用
摘要： 半导体功率器件静态参数测试仪系统STD2000X能测很多电子元器件静态参数以及IV曲线扫描 如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器...... 可以外接夹具、工装、探针台、分选机、编带机、机械手 高压源 14 阅读全文
posted @ 2025-10-23 10:49 FORCREAT-苏州永创 阅读(18) 评论(0) 推荐(0)
半导体静态参数测试仪系统设备STD2000X在半导体领域和制造领域的详细应用
摘要： 半导体静态参数测试仪系统设备STD2000X能测很多电子元器件静态参数以及IV曲线扫描 如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器...... 可以外接夹具、工装、探针台、分选机、编带机、机械手 高压源 1400 阅读全文
posted @ 2025-10-23 10:46 FORCREAT-苏州永创 阅读(30) 评论(0) 推荐(0)