2025年12月
半导体分立器件静态参数测试仪系统STD2000X使用价值和选型参考
摘要： 半导体分立器件静态参数测试仪系统在半导体研发、生产、质量控制及应用中具有重要的使用价值和意义，主要体现在以下几个方面： 1. 技术价值：确保器件性能与可靠性 半导体分立器件静态参数测试仪系统 精准测量核心参数 可高效测试分立器件（如二极管、晶体管、场效应管等）的关键静态参数，包括： 电流-电压特性（ 阅读全文
posted @ 2025-12-16 15:08 FORCREAT-苏州永创 阅读(1) 评论(0) 推荐(0)
苏州永创智能科技详解“CMTI测试电源”共模瞬态抗扰度测试方案及标准
摘要： CMTI测试电源/全固态纳秒高压脉冲源、超宽带高压皮秒脉冲源、数百kV级的皮秒纳秒EMP/HPEM特斯拉Q 发生器、系统集成和定制、参数化脉冲电源、通用纳秒脉冲源、生物医疗脉冲源(IVL& IRE脉冲源)半导体脉冲源(CMTI、TLP等半导体测试) 永创/Forcreat之PPS-CMTI-X系列C 阅读全文
posted @ 2025-12-08 15:07 FORCREAT-苏州永创 阅读(11) 评论(0) 推荐(0)
二极管三极管静态参数测试仪系统设备STD2000X--半导体领域和制造领域
摘要： 半导体二极管三极管静态参数测试仪系统STD2000X能测很多电子元器件静态参数以及IV曲线扫描 如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器...... 可以外接夹具、工装、探针台、分选机、编带机、机械手 高压源 阅读全文
posted @ 2025-12-05 17:15 FORCREAT-苏州永创 阅读(13) 评论(0) 推荐(0)
2025年11月
从纳米刀到EMP模拟：加能CMTI脉冲电源如何重新定义“功率极限”？
摘要： 引言 在工业自动化、电机驱动、机器人控制等高可靠性系统中，隔离器件的性能直接决定了系统在复杂电磁环境下的稳定性和安全性。而共模瞬变抗扰度（Common Mode Transient Immunity, CMTI），正是衡量隔离器件在强干扰下是否“可靠”的关键指标。 什么是参数化脉冲电源？ 参数化脉冲 阅读全文
posted @ 2025-11-28 17:05 FORCREAT-苏州永创 阅读(7) 评论(0) 推荐(0)
CMTI测试为何成为半导体隔离器件的“必考题”？苏州永创PPS-CMTIX系统给出专业答案
摘要： 在工业自动化、电机驱动、机器人控制等高可靠性系统中，隔离器件的性能直接决定了系统在复杂电磁环境下的稳定性和安全性。而共模瞬变抗扰度（Common Mode Transient Immunity, CMTI），正是衡量隔离器件在强干扰下是否“可靠”的关键指标。 什么是CMTI？为何它如此重要？ CMT 阅读全文
posted @ 2025-11-27 18:00 FORCREAT-苏州永创 阅读(11) 评论(0) 推荐(0)
加能电源-STD2000X半导体静态参数测试系统：面向多场景的高精度器件表征解决方案
摘要： 在半导体器件研发与制造过程中，电性参数测试是验证器件性能、保障产品可靠性的核心环节。随着第三代半导体材料的广泛应用，测试系统在精度、灵活性与场景适配能力方面面临更高要求。STD2000X 半导体静态参数测试系统，作为苏州永创智能科技公司旗下加能电源团队推出的综合测试平台，为分立器件、复合器件及IC产 阅读全文
posted @ 2025-11-25 15:32 FORCREAT-苏州永创 阅读(13) 评论(0) 推荐(0)
STD2000X：半导体分立器件静态电性测试的全场景解决方案
摘要： 在半导体设计与制造过程中，器件性能的精确测试是确保产品可靠性与一致性的关键环节。苏州永创智能科技有限公司推出的STD2000X 半导体静态电性测试系统，正是面向 Si、SiC、GaN 等材料的分立器件、复合器件及部分 IC 类产品的综合测试平台，覆盖从研发验证到量产筛选的全流程需求。 一、广泛适配的 阅读全文
posted @ 2025-11-21 11:20 FORCREAT-苏州永创 阅读(11) 评论(0) 推荐(0)
加能电源- CMTI测试系统/半导体测试/脉冲电源/测试
摘要： 脉冲电源系列 加能电源-脉冲电源系列产品。集脉冲功率技术方面资深技术专家团队，致力于脉冲电源及脉冲功率技术研究与应用。在基于MOSFET/IGBT及第三代半导体器件的脉冲电源方面有20余年的研究开发经验。公司的脉冲电源产品电压幅值从数kV到百kV级，脉冲上升时间从ps级到ms级，脉冲平顶宽度从0ns 阅读全文
posted @ 2025-11-20 10:52 FORCREAT-苏州永创 阅读(16) 评论(0) 推荐(0)
半导体静态电性测试系统STD2000X可测试的器件种类和参数
摘要： STD2000X半导体静态电性测试系统·可以测试的测试器件种类和参数 (1) 二极管类：二极管 Diode Kelvin，Vrrm，Irrm，Vf，△Vf，△Vrrm，Cka，Tr（选配）； (2) 二极管类：稳压二极管 ZD（Zener Diode） Kelvin，Vz，lr，Vf，△Vf，△Vz 阅读全文
posted @ 2025-11-17 17:47 FORCREAT-苏州永创 阅读(16) 评论(0) 推荐(0)
IGBT测试仪-苏州永创智能科技-STD6500-IGBT静态参数测试仪
摘要： IGBT测试仪-苏州永创智能科技-STD6500-IGBT静态参数测试仪 苏州永创智能科技-STD6500-IGBT静态参数测试仪可用于多种封装形式的 IGBT测试，还可以测量大功率二极管 、IGBT模块，大功率 IGBT、大功率双极型晶体管，MOS管等器件的 V-I 特性测试，测试1200A（可扩 阅读全文
posted @ 2025-11-12 13:26 FORCREAT-苏州永创 阅读(14) 评论(0) 推荐(0)
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