12 2025 档案

二极管三极管静态参数测试仪系统设备STD2000X--半导体领域和制造领域
摘要：半导体二极管三极管静态参数测试仪系统STD2000X能测很多电子元器件静态参数以及IV曲线扫描 如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器...... 可以外接夹具、工装、探针台、分选机、编带机、机械手 高压源 阅读全文
posted @ 2025-12-05 17:15 FORCREAT-苏州永创 阅读(5) 评论(0) 推荐(0)