12 2025 档案

摘要：半导体分立器件如今已成为不可或缺的元件，在通信、电力电子等领域得到广泛应用。而对其性能参数的测试也是必不可少的，是对半导体性能、质量的保障。半导体测试参数包含静态测试参数和动态测试参数，本文将介绍半导体分立器件静态测试参数的相关内容。 半导体静态测试参数是指在直流条件下对其进行测试，目的是为了判断半 阅读全文

摘要：半导体分立器件静态参数测试仪系统在半导体研发、生产、质量控制及应用中具有重要的使用价值和意义，主要体现在以下几个方面： 1. 技术价值：确保器件性能与可靠性 半导体分立器件静态参数测试仪系统 精准测量核心参数 可高效测试分立器件（如二极管、晶体管、场效应管等）的关键静态参数，包括： 电流-电压特性（ 阅读全文

摘要：CMTI测试电源/全固态纳秒高压脉冲源、超宽带高压皮秒脉冲源、数百kV级的皮秒纳秒EMP/HPEM特斯拉Q 发生器、系统集成和定制、参数化脉冲电源、通用纳秒脉冲源、生物医疗脉冲源(IVL& IRE脉冲源)半导体脉冲源(CMTI、TLP等半导体测试) 永创/Forcreat之PPS-CMTI-X系列C 阅读全文

摘要：半导体二极管三极管静态参数测试仪系统STD2000X能测很多电子元器件静态参数以及IV曲线扫描 如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器...... 可以外接夹具、工装、探针台、分选机、编带机、机械手 高压源 阅读全文