10 2025 档案

摘要：在半导体设计与制造中，静态参数测试是验证器件性能与可靠性的基石。无论是研发阶段的特性分析，还是量产中的质量控制，对器件直流参数、IV曲线、动态响应等关键指标的精准捕捉，都直接影响产品的最终表现。 然而，传统测试系统往往面临精度不足、兼容性差、扩展性弱等挑战，尤其在面对第三代半导体材料（如SiC、Ga 阅读全文

摘要：—— 走进-苏州永创-STD2000X半导体电性测试系统的技术世界 在现代电子设备中，半导体器件如同人体的“心脏”与“神经”，其性能直接决定了整机的可靠性与效率。而如何对这些微小的“电子器官”进行全面、精准的“体检”，成为了半导体研发、制造与质量控制中不可或缺的一环。今天，我们就来聊聊半导体测试背后 阅读全文

摘要：半导体分立器件电参数测试仪系统测试哪些参数 测试参数主要是静态参数，如下所示 能测很多电子元器件静态参数以及IV曲线扫描。如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器......可以外接夹具、工装、探针台、分选机、 阅读全文

摘要：IV曲线追踪扫描仪&半导体图示仪能测IGBT. Mosfet. Diode. BJT...... STD2000X—IV曲线追踪扫描仪系统能测试很多电子元器件的静态直流参数（如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压 阅读全文

摘要：苏州永创智能 半导体静态电性测试系统_STD2000X 基础信息 测试分析：功率器件研发设计阶段的初始测试 失效分析：失效器件测试，失效机理，设计方案改善 选型配对：器件焊接PCB之前测试，按器件一致性分类配对 来料检验：质量部对入厂器件进行抽检/全检，把控良品率 量产测试：连接机械手、扫码枪、分选 阅读全文

摘要：半导体功率器件静态参数测试仪系统STD2000X能测很多电子元器件静态参数以及IV曲线扫描 如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器...... 可以外接夹具、工装、探针台、分选机、编带机、机械手 高压源 14 阅读全文

摘要：半导体静态参数测试仪系统设备STD2000X能测很多电子元器件静态参数以及IV曲线扫描 如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器...... 可以外接夹具、工装、探针台、分选机、编带机、机械手 高压源 1400 阅读全文