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2025年10月26日
芯片落地之道
摘要: 在现代集成电路(IC)设计中,“物理实现”是从逻辑构想到可制造布局的重要桥梁。在这一阶段,设计不仅要“看得见”,更要“用得好”。今天,就让我们一起探索这一关键环节的奥秘。 1、起点:从逻辑到芯片的“落地” 物理实现,就是将经过综合与验证的逻辑设计转换为符合制造规则、满足性能和功耗要求的物理布局——也
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posted @ 2025-10-26 10:04 像蚀刻中的硅
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2025年10月25日
SI技术攻略:深入信号完整性分析
摘要: 在高速 IC 设计过程中,信号完整性(SI)分析—特别是串扰噪声与延迟分析—是确保电路高质量和可靠性不可或缺的步骤。 1、为什么信号完整性分析如此关键? 信号完整性分析确保信号在芯片内部不遭失真、无误传播,直接影响 IC 的性能、功能与可靠性。串扰噪声(crosstalk noise)和串扰延迟(c
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posted @ 2025-10-25 10:01 像蚀刻中的硅
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2025年10月24日
节能智驱IC功耗优化
摘要: 在日益严苛的低功耗、高性能IC设计领域,全面精准的功率分析成为质量与效率并重的核心保障。 1、为什么深度功率分析至关重要? 从一开始对功耗进行评估,就能在设计早期预见潜在问题,优化能源使用,缩减成本,并提升产品性能与质量。这种“早发现、早改进”的理念,是高效 IC 设计流程的关键基础。 2、关键功率
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posted @ 2025-10-24 10:08 像蚀刻中的硅
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2025年10月23日
精控DRC,成就高质量IC设计精品
摘要: 在当今高速发展的集成电路(IC)设计领域,精准、高效的设计规则检查(DRC)显得尤为关键。不仅保证设计符合制造工艺要求,更是提升良率、缩短迭代、降低成本的关键一步。 1、为什么DRC是IC设计的“把关者”? DRC是物理验证流程中的核心环节,用于检测布局是否满足制造厂商制定的几何设计规则,如最小线宽
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posted @ 2025-10-23 17:02 像蚀刻中的硅
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2025年10月22日
Timing Signoff 技术精要
摘要: 1、为何 Timing Signoff 是 IC 设计的“守门人”? Timing Signoff 确保芯片设计在预定时钟频率下满足时序要求,并在多种工况下保持稳定性与可靠性。这是避免后期返工、提升产品良率与质量的重要步骤。 图:Static Timing Analysis (STA) 流程示意 2
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posted @ 2025-10-22 13:48 像蚀刻中的硅
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2025年10月21日
DFT 签核精通指南
摘要: 1、DFT 签核为何至关重要? DFT 签核确保 IC 设计满足所有测试能力(testability)要求,为制造后测试提供基础保障。通过完善的签核流程,可提前发现问题、减少 costly 迭代,提升产品质量与可靠性。 2、核心签核技术与实践经验 I. 扫描链插入与优化 意义:增强 IC 内部状态的
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posted @ 2025-10-21 17:22 像蚀刻中的硅
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2025年10月20日
高效增量综合
摘要: 1、什么是增量综合? 增量综合的核心思路是:只针对发生变化的设计模块进行重新综合,而非全部重合成。这种策略在大型设计与频繁迭代场景下,能够显著缩短综合时间。 2、关键技术与实践效益 I. 选择性重合成(Selective Re-synthesis):针对变更 RTL 区域进行重合成,保持其他模块不变
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posted @ 2025-10-20 18:48 像蚀刻中的硅
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2025年10月19日
物理感知 RTL 合成
摘要: 1、PAS:缩短设计闭环的先锋技术 物理感知合成(PAS)将物理设计信息(如布局、连线、拥塞、功耗)提前纳入 RTL 合成阶段,使合成结果与后端布局更一致,从而减少反复迭代,提升设计效率与 PPA(性能-功耗-面积)表现。 2、核心技术亮点与典型案例 I. 时序驱动综合(Timing-Driven
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posted @ 2025-10-19 15:35 像蚀刻中的硅
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2025年10月18日
高效利用技术库
摘要: 在现代 IC 设计流程中,合理利用技术库(Technology Library)是优化 RTL 合成结果的关键。 1、技术库:设计优化的核心资源 技术库包含标准单元及其详细特性(如时序、功耗、面积等),合成工具依赖这些数据将 RTL 转换成物理电路。精确的模型与策略直接决定设计是否能满足性能、功耗与
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posted @ 2025-10-18 09:30 像蚀刻中的硅
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2025年10月17日
IC 测试革新
摘要: 无论你是 IC 设计新手,还是资深 RTL Synthesis 工程师,深入掌握设计可测试性(DFT)关键技术,是提升芯片可靠性的必经之路。 1、为什么 DFT 在现代 IC 中变得不可或缺 提升可控性与可观测性:通过在设计中嵌入测试结构,内部节点的状态能被有效控制与观察,从而支持故障定位与调试。
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posted @ 2025-10-17 09:47 像蚀刻中的硅
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