摘要： 1. concept scan cell 是scan circuitry中最基层的、独立的单元，可同时作为control point和observe point。 2. testproc scan cell的工作模式可从芯片外部控制，一般来说控制信号写在testproc file里面。 3. mem 阅读全文

摘要： 1. concept graybox 中有一个block最少的互联电路，包括PI/PO，wrapper chain以及在wrapper chain和block 边界之间的glue logic。 2. usage 在hierachical ATPG strategy应用中，对一个sub-module产 阅读全文

摘要： 1. X-blocking 使用EDT compactor压缩scan chain会导致X-blocking，compactor会将scan chain的observe值做异或运算，两条chain中的任意一条为X， edt channel output 都会observe X，这导致被mask的一条 阅读全文

摘要： ref link: https://www.edn.com/enhanced-timing-closure-using-latches/ 1. complexity & importance of hold fixing 当代SoC timing timing closure的效率很大程度上取决于t 阅读全文

摘要： ref link: https://www.edn.com/launch-off-shift-at-speed-test/ LOC & LOS 2. pros & cons LOS更有利于工具产生pattern，因为最后一个lauch的值只需要shift到相应的scan cell，而使用LOC时，S 阅读全文

摘要： 1. OCC design description OCC design有三种类型：Standard，Parent和Child。 2. Standard OCC 标准OCC有全部三个功能，selection、chopping和gating。标准OCC被推荐在hierarchy ATPG中使用，可用于 阅读全文

摘要： 1. concept occ (On-chip Clock Control) 是在测试中用广泛应用的时钟管理模块。在ATPG流程中产生对应的低速或高速时钟。 2. OCC function 一个典型的OCC有三个主要功能：clock selection\chopping\gating selecti 阅读全文

摘要： 阅读全文

摘要： 1. 应用scan 的好处 高度自动化，高效易用，可预测性，测试覆盖率高。 2.Wrapper chain 针对面积大、电路复杂的芯片，为了增加测预测性，通常需要应用分层技术（Hierarchical techniques)。 wrapper chain是应用较为广泛的技术之一，特别是对切分成许多b 阅读全文

摘要： 1. internal scan & boundary scan internal scan又称scan，是将电路内部时序单元替换为可扫描的时序单元，然后串成扫描链的技术。 boundary scan在电路周边插入扫描链，然后在board上提供标准接口给tester，具体可参考JTAG协议1149. 阅读全文