摘要： 1. 应用scan 的好处 高度自动化，高效易用，可预测性，测试覆盖率高。 2.Wrapper chain 针对面积大、电路复杂的芯片，为了增加测预测性，通常需要应用分层技术（Hierarchical techniques)。 wrapper chain是应用较为广泛的技术之一，特别是对切分成许多b 阅读全文

摘要： 1. internal scan & boundary scan internal scan又称scan，是将电路内部时序单元替换为可扫描的时序单元，然后串成扫描链的技术。 boundary scan在电路周边插入扫描链，然后在board上提供标准接口给tester，具体可参考JTAG协议1149. 阅读全文

摘要： 1. DFT概念 芯片复杂度日益提升，芯片制造完成后再进行测试已经不能满足测试覆盖率要求，测试开始在早期设计阶段被考虑，从而产生了DFT（design for test）flow 。 2. DFT 策略 dft的实现策略可以分为 ad hoc和structured两种。 ad hoc ： 不对电路进 阅读全文