随笔分类 -  硬件, 可靠性

摘要：A、抽样原则 A1、基本概念和 OC(operating characteristic) curve 对于全检测下：在（样本数N，不良品p）情况下，基于二项分布，OC曲线确定。 对于抽样检测，其概率分布一般采用如下方式选择： 决定某一批产品的质量（缺陷水平）的是被抽出来检验的样本，因为抽样具有随机性 阅读全文

摘要：一、PVT （Process Voltage Temperature） 电压、温度 和 工艺情况等条件组合，形成 PVT(Process、Voltage、Temperature)条件，用于性能分析（时序分析）。 Voltage & Temperature Process corner不同的晶片和不同 阅读全文

摘要：IC 四种常见失效机理如下： EM -- electron migration，电子迁移TDDB -- time dependent dielectric breakdown，与时间相关电介质击穿 / 经时击穿NBTI -- negative-bias temperature instability 阅读全文

摘要：可靠性相关的 概率基本概念 F(t) - Cumulative Distribution Function (CDF) 积累失效概率函数； R(t) - Reliability Function 可靠度函数， R(t) = 1 − F(t)； f(t) - Probability Density F 阅读全文