ATPG原理与实现——1.ATPG基础

ATPG——自动测试pattern生成

Fault——电路或系统中可能会或不会导致系统故障的物理缺陷

Fault Model——表示物理缺陷影响的逻辑模型

一、Fault Model

1、stuck-at fault model

 

 

2、At-speed fault model

两种类型：

Transition fault model	Standard Transition Delay Model
	Small Delay Defect Model
Path Delay fault model	Setup Time Fault
	Hold Time Fault

 

 

 

 

 

 

 

Transition Delay Testing

fault与library cell相关；每个节点都有一个缓慢上升/缓慢下降的点；目标点缺陷

Path Delay Testing

故障与path相关；目标路径通常包括“关键”路径；针对流程缺陷

3、其他fault model

Bridging(static、Dynamic)

IDDQ

etc

 

二、scan pattern

施加一个stimulus并检查预期response以检测目标故障的一个或多个向量的序列。

 

 例子：