2018年8月6日
SOC中的DFT和BIST对比与比较-IC学习笔记（二）
摘要： ATE：ATE是Automatic Test Equipment的缩写，根据客户的测试要求、图纸及参考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发、设计各类自动化测试设备。 BIST：BIST是在设计时在 阅读全文
posted @ 2018-08-06 18:03 Paul安 阅读(13067) 评论(0) 推荐(0) 编辑