2025年5月19日
NXP的S32K118芯片RAM区测试BUG
摘要： RAM测试背景说明： 1.安全需求中涉及RAM区的测试，测试时会周期交替的写入0x5555或者0xAAAA数据，然后依次检查写入数据的正确性。 2.RAM区原数据会存储在安全区域中，此安全区域不在RAM检查范围内。同理0x5555或者0xAAAA也是如此。 3.((RAMT_data_T *)sav 阅读全文
posted @ 2025-05-19 23:08 日暮_途远 阅读(42) 评论(0) 推荐(0)