随笔分类 -  Mentor Scan & ATPG

reduce pattern sim effort
摘要：1. invoke problem 使用write_patterns保存pattern 做后续simulation时使用一些option来写出想要的格式， eg: -verilog //pattern file 常用格式 -parallel -pattern_set scan //verifies 阅读全文
posted @ 2023-07-27 17:08 zyy_note 阅读(55) 评论(0) 推荐(0)
at-speed test with hierarchical wrapper chain
摘要：1. help hierachical design of at-spped test close timing: when running block level ATPG, input wrapper chain capture X from D input pin of input wrapp 阅读全文
posted @ 2023-07-14 16:02 zyy_note 阅读(195) 评论(0) 推荐(0)
Tri-state Device
摘要：1. tri-state device definition 2. bus contention 当多个bus drive一个output时，enable line （B）上的stuck at fault可能会引起output上的contetion，可能有多个driver或者是没有driver，正常 阅读全文
posted @ 2022-09-05 16:49 zyy_note 阅读(121) 评论(0) 推荐(0)
Model Flattening
摘要：1. reason ATPG tool通过flattening model和把netlist中的lib cell替换成自己的primitive来创建自己的internal design。model flattening通常发生在退出setup mode和DRC check之前。 2. Flatten 阅读全文
posted @ 2022-09-05 15:05 zyy_note 阅读(96) 评论(0) 推荐(0)
Scan terminology - scan
摘要：1. scan chain scan chain是串联起来的scan cell，一条scan chain有一个access的input和output。scan chain length是一条chain的scan cell数量，通常length为N的chain，从靠近output的scan cell编 阅读全文
posted @ 2022-09-02 15:23 zyy_note 阅读(232) 评论(0) 推荐(0)
Scan terminology - Scan cells
摘要：1. concept scan cell 是scan circuitry中最基层的、独立的单元，可同时作为control point和observe point。 2. testproc scan cell的工作模式可从芯片外部控制，一般来说控制信号写在testproc file里面。 3. mem 阅读全文
posted @ 2022-09-02 14:44 zyy_note 阅读(304) 评论(0) 推荐(0)
Tessent On-Chip Clock Controller （一）
摘要：1. concept occ (On-chip Clock Control) 是在测试中用广泛应用的时钟管理模块。在ATPG流程中产生对应的低速或高速时钟。 2. OCC function 一个典型的OCC有三个主要功能：clock selection\chopping\gating selecti 阅读全文
posted @ 2022-08-09 11:09 zyy_note 阅读(1115) 评论(0) 推荐(0)
ATPG Overview (一）
摘要： 阅读全文
posted @ 2022-08-09 09:30 zyy_note 阅读(154) 评论(0) 推荐(0)
Scan Design Overview （一 ）
摘要：1. internal scan & boundary scan internal scan又称scan，是将电路内部时序单元替换为可扫描的时序单元，然后串成扫描链的技术。 boundary scan在电路周边插入扫描链，然后在board上提供标准接口给tester，具体可参考JTAG协议1149. 阅读全文
posted @ 2022-08-03 11:19 zyy_note 阅读(179) 评论(0) 推荐(0)
DFT Overview
摘要：1. DFT概念 芯片复杂度日益提升，芯片制造完成后再进行测试已经不能满足测试覆盖率要求，测试开始在早期设计阶段被考虑，从而产生了DFT（design for test）flow 。 2. DFT 策略 dft的实现策略可以分为 ad hoc和structured两种。 ad hoc ： 不对电路进 阅读全文
posted @ 2022-08-03 10:37 zyy_note 阅读(184) 评论(0) 推荐(0)