DFT Overview

1. DFT概念

　　芯片复杂度日益提升，芯片制造完成后再进行测试已经不能满足测试覆盖率要求，测试开始在早期设计阶段被考虑，从而产生了DFT（design for test）flow 。

2. DFT 策略

　　dft的实现策略可以分为 ad hoc和structured两种。

• ad hoc ： 不对电路进行大的改动，通过使用更多可测性高电路的方法来增强测试覆盖率，包括最小化冗余逻辑、最小化异步逻辑、隔离时钟、增加内部控制和观测点等。
• structured ： structured DFT通过增加电路可控性和可观测性来增强测试覆盖率，实现方式多样，最常用的是Scan，另外还有BIST和boundary scan。

3. Top-Down design flow with DFT

　　create initial design -->  verify functionality -->  insert/verifty BSIT circuitiy --> insert/verify boundary scan circuitty --> synthesize/optimize design -->

　　--> verify timing --> insert internal scan circuitry --> re-verify timing --> generate/verify test patterns --> hand off to vendor