中昊芯测

摘要： 测试机柜的槽位总是不够用，而器件的引脚却在一年比一年多。当"多测一路"的代价是"再插一块卡"，通道密度就成了绕不开的成本题。 先想象一个场景。 一块待测芯片，几十个引脚，每一路都要单独加电、单独回读电流。工程师的做法很朴素：插一块源测量板卡，测四路；不够，再插一块。直到某天机箱插满，只能把第二个机箱 阅读全文

摘要： 引言：被低估的"激励源误差" 在功率半导体器件的可靠性评估体系中，CMTI（Common Mode Transient Immunity，共模瞬态抗扰度）长期处于一个微妙的位置——它是隔离器件、栅极驱动器、SiC / GaN 功率模块的关键指标，但在实际测试环节，工程师往往把注意力放在被测器件上，而 阅读全文

摘要： 在航空航天线束车间，有一句被反复验证的话：工具决定工艺下限。 一道看不见的切痕，能让卫星失去信号 某型号卫星在热真空试验最后一环，一路遥测信号突然中断。排查两周后，定位到一根 AWG 30 导线——外观完好、拉力合格、X 光无异常。但在金相显微镜下，第 3 股铜丝上有一道深度约占直径 12% 的切痕 阅读全文

摘要： 在航天电子产品的精密制造车间里，有一道工序看似简单，却长期制约着生产效率与产品一致性——那就是轴向元器件的引线手工成形。 过去，这道工序高度依赖“老师傅”的手感与经验：一手固定引线弯曲点，另一手缓慢施力弯折，既要确保间距精准匹配焊盘，又要避免损伤引线根部或表面。反复比量、试装、调整，不仅耗时耗力，更 阅读全文

摘要： 光耦虽小，却是电路隔离的“守门员”。如何快速筛选不良品？YCT1400A光耦参数测试仪，专为精准质检而生。 在电子制造业，光电耦合器（光耦）是电路隔离中不可或缺的元器件。但很多工厂在来料检验（IQC）或产线测试时，往往面临这样的痛点： ❌ 测试项目不全：万用表只能测通断，测不准CTR（电流传输比）和 阅读全文

摘要： 在新能源汽车、工业控制及高端电源技术飞速发展的今天，功率半导体器件（如MOSFET、IGBT）正朝着高电压、大电流、高功率密度的方向极速演进。然而，器件的性能极限在哪里？其长期运行的可靠性又如何保障？这一切的答案，都指向了一个关键环节——半导体测试与老化筛选。 在这一背景下，一款高品质的测试夹具成为 阅读全文

摘要： 在高端电子测量仪器领域，七位半数字多用表长期以来被视为“皇冠上的明珠”，此前一直被国外巨头所垄断。如今，由中国航天科工（CASIC）旗下北京航天测控技术有限公司自主研发的AMC93200七位半数字多用表，成功填补了国内空白，成为国内首台实现量产的七位半精度数字多用表，标志着我国在高端测试测量装备领域 阅读全文

摘要： 在航天电子厂房的无尘车间里，老技工王师傅的手曾被称作“活尺子”——给轴向元器件弯引线，他不用看刻度，指尖一捏就能把间距卡得刚好匹配焊盘，二十年来没出过一次因成形导致的质量问题。但最近三年，王师傅却主动把这“绝活”交给了刚入职半年的徒弟小李：“不是我保守，是有了新家伙，这活儿不用‘熬十年’也能干好了。 阅读全文

摘要： 随着电磁继电器在汽车电子、工业控制及通信设备中的高密度应用，传统人工抽检或简易工装测试已无法满足对触点回跳、同步误差等隐性参数的管控需求。本文介绍一种基于高速 MCU 的继电器综合参数测试仪，解析其在线圈特性、接触特性及动态时间参数上的测试原理与技术指标。 1. 引言 在继电器量产测试中，常规万用表 阅读全文