51单片机4*4矩阵按键实验详解（更新中）

如何判断是哪一个按键被按下？

列4（P2.4） 列5（P2.5） 列6（P2.6） 列7（P2.7）
行0（P2.0） S1 S2 S3 S4
行1（P2.1） S5 S6 S7 S8
行2（P2.2） S9 S10 S11 S12
行3（P2.3） S13 S14 S15 S16

进一步解释，分为两步：
1.单片机先让所有行（P2.0 - P2.3 ）都通低电。然后看列，要是发现列 5（P2.5）是低电平，其他列（P2.4、P2.6、P2.7 ）是高电平，说明列 5 这一列有按键被按，可能是 S2、S6、S10、S14 （这四个按键在列 5 ）。
2. 再确定 “哪一行被按了”
先让行 0（P2.0）通低电，其他行（P2.1 - P2.3 ）通高电。这时看列 5 ，要是还低，那就是行 0 和列 5 交叉的 S2 被按；要是列 5 变高了，说明不是行 0 。
在这里附上一张我手书总结的图片：

接着让行 1（P2.1）通低电，其他行通高电。看列 5 ，要是低了，就是行 1 和列 5 交叉的 S6 被按，依这法子，就能确定到底是 S2、S6、S10、S14 里哪个被按啦。

在这之后还有一个矩阵按键软件消抖的问题,由于矩阵按键本身的特性，它会产生机械抖动。

软件去抖操作步骤如下：

①检测到按键按下后进行10～15ms延时，用于跳过这个抖动区域。

②延时后再检测按键状态，如果没有按下，表明是抖动或者干扰造成，如果仍旧按下，可以认为是真正的按下，并进行对应的操作。

③同样按键释放后也要进行去抖动延时，延时后检测按键是否真正松开。

在这里我继续绘图演示。

2.项目软件程序设计
一般步骤：

• 单片机将行线（P20～P23）全部输出低电平，此时读入列线数据，若列线全为高电平则没有键按下，当列线有出现低电平时调用延时程序以此来去除按键抖动。延时完成后再判断是否有低电平，如果此时读入列线数据还是有低电平，则说明确实有键按下，再来进一步确定键值。

拆分为步骤

1. 单片机将行线（P20～P23）全部输出低电平，此时读入列线数据，若列线全为高电平则没有键按下
2. 当列线有出现低电平时调用延时程序以此来去除按键抖动
3. 延时完成后再判断是否有低电平，如果此时读入列线数据还是有低电平，则说明确实有键按下
4. 确定键值，一旦判断确实有按键按下后，行线轮流输出低电平，根据读入列线的数据可以确定键值

首先，单片机将P20输出为低电平，其他P21～P23输出高电平，此时读取列线的数据全为高电平，说明没有在第一行有键按下；其次，单片机将P21输出低电平，其他P20、P22、P23仍为高电平，此时再来读取列线数据，发现列线读到的数据有低电平，数值为P20=1、P21=0、P22=1、P23=1（即1101），此时列项S7按键按下导.致P27=0、P26=1、P25=1、P24=1（即0111），最后将按键特征码组合为01111101（即0x7d），那么0x7d代表S7的按键值，执行按键扫描功能处理子程序就可以达到目的

代码设计流程框图如下：