半导体行业从技术革新到性能提升，激光粒度仪功不可没！

　　在科技飞速发展的今天，半导体行业是推动全球经济与社会进步的核心力量。从智能手机到超级计算机，从智能家居到自动驾驶汽车，都离不开半导体技术，它正全方位重塑我们的生活与工作。

　　粒度和粒形对半导体材料性能的影响：

　　在半导体材料的研发与生产过程中，粒度和粒形是决定材料性能的关键因素之一。

　　以氮化硅陶瓷粉体为例，其粒度分布与形状会直接影响制成的陶瓷基板的致密性、导热性、机械强度，以及基板与芯片的结合性能。

　　-粒度过大：可能导致陶瓷基板内部孔隙增多，降低导热效率和机械强度。

　　-粒度过小：可能引发烧结过程中颗粒团聚，影响材料的均匀性和性能稳定性。

　　因此，精确的粒度和粒形分析对于控制半导体材料的质量、优化生产工艺、提高产品性能至关重要。

　　德国新帕泰克公司的激光粒度仪HELOS为半导体材料的粒度分析带来了全新的解决方案。以下来了解下该公司的基本信息及产品优势。

　　德国新帕泰克是集研发、制造、销售、技术服务和支持为一体的粒度分析仪制造商，为全世界的客户提供实验室及工业在线的一系列粒度粒形分析仪。

　　新帕泰克致力于基于激光衍射、动态图像分析、超声衰减原理及光子交叉相关光谱法(PCCS)的粒度测试技术的开创，并在具有挑战性的应用中拥有理想的性能优势，帮助解决颗粒体系的研发、生产与质量控制难题。

　　网站：https://www.sympatec.com.cn/

　　电话：0512-66607566

　　传真：0512-66607599

　　如今，德国新帕泰克的粒度仪已经广泛应用于如干粉、造粒、纤维、悬浮液、乳浊液、气溶胶、喷雾和吸入剂等的粒度测试，测试范围从0.5 nm到34.000 m。模块化的设计，可以根据实验室需要组合应用，同时也可整合到在线系统。此外，使用新帕泰克的仪器，在更短的测试时间内获得具有更高准确度、测试重复性及仪器可比性的粒度测试结果!

　　干法激光粒度仪HELOS&RODOS突破性优势：

　　-专利干法分散技术：配备全自动干法分散系统RODOS，采用压缩气流高效分散超细氮化硅材料粉体，干样干测，无需使用溶剂，避免颗粒团聚。

　　-瞬时分散、瞬时测量：自由分散区域，无软管残留及二次团聚。

　　-高效测试：从进样到出结果仅需几秒钟，测试速度快，分析效率高。

　　-高精度与重复性：最高可达0.04微米分辨率，结合稳定的干法分散技术，确保每次测试结果的重复性和可靠性。

　　干法激光粒度仪HELOS&RODOS

　　德国新帕泰克的另一款重要产品 — 动态图像分析仪QICPIC，为粒度与粒形的双维度分析提供了更为全面的解决方案。

　　高速动态图像分析仪QICPIC突破性优势：

　　-动态图像法测试：结合高效分散系统，利用高速摄像头拍摄运动中的分散颗粒流，通过专业分析软件对每个颗粒的粒度和粒形同时进行精确测量和分析。

　　-多样化粒度、粒形评估模式：可以从多个维度精确描述半导体材料颗粒的大小和形状特征。

　　①粒度评估模式：EQPC径、Feret径、CHORD径等

　　②粒形评估模式：球形度、宽长比、凸度、圆度等

　　-颗粒图库功能：可使用特定过滤条件查询超规颗粒(如EQPC径 > 100μm的颗粒)，追溯其产生的原因，及时优化工艺参数。

　　-直观数据呈现：提供粒度、粒形分布图、散点图、表格及详细的图文报告;支持导出颗粒图像、粒径和粒形信息，以及测试过程记录的颗粒流录像。

　　-与其他方法具有可比性：检测结果与传统筛分法、激光衍射法具有良好的对比性，为企业提供了可靠的参考和验证手段。

　　动态图像分析仪QICPIC

　　德国新帕泰克公司作为粒度和粒形分析领域的技术先驱，致力于为不同行业提供全面、精准、高效的粒度与粒形解决方案。

　　除了上述的激光粒度仪HELOS和动态图像分析仪QICPIC外，新帕泰克还拥有丰富的产品线，包括纳米粒度仪、在线激光粒度仪等，能够满足从纳米到毫米级粒度范围的测量需求，覆盖半导体材料研发、生产、质量控制等各个环节。

　　-高浓度纳米粒度仪：采用动态光散射技术结合背向散射交叉相关光谱技术，精确测量纳米级高浓度样品的粒度及分布，助力纳米半导体材料的研发。

　　-在线激光粒度仪：实现对生产过程中粉体粒度的实时监测和控制，确保产品质量的稳定性和一致性。

　　此外，新帕泰克还提供定制化的解决方案，根据企业的具体需求配置更适合的粒度与粒形分析系统，助力企业提升产品质量、优化生产工艺、降低生产成本，推动半导体材料产业的高质量发展。