芯片测试

芯片测试

 

Description

 

有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

 

Input

 

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本 身进行测试）。

 

Output

 

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

 

#include<iostream>
#include<cstdio>


using namespace std;

int main(){
    int n,i,j;
    int chips[20][20],nums[20]={0};
    
    cin>>n;
    for(i=1;i<=n;i++){
        for(j=1;j<=n;j++){
            cin>>chips[i][j];
            if(chips[i][j]==1){
                nums[j]++;
            }
        }
    }
    
    int flag=0;
    for(i=1;i<=n;i++){
        if(nums[i]>n/2){
            if(flag==0){
                printf("%d",i);
                flag=1;
            }else{
                printf(" %d",i);
            }    
        }
    }
    return 0;
}