【12月昆明会议推荐 | JPCS出版】第六届检测技术与智能系统国际学术会议(DTIS 2026)

第六届检测技术与智能系统国际学术会议(DTIS 2026)

重要信息

大会官网:【www.icdtis.org 】

大会时间:2026年12月4-6日

大会地点:中国-昆明

论文出版
本会议投稿经过2-3位组委会专家严格审核之后,最终所录用的论文将由Journal of Physics: Conference Series(JPCS)(ISSN:1742-6596)收录出版,出版后提交EI Compendex, Scopus检索。

征稿主题
传感器技术、信号与信息处理、光学测量技术、光电测量与控制系统、智能无损检测、智能故障检测与诊断、数据分析与大数据挖掘、嵌入式系统与传感器网络、分布式控制系统、面向检测系统的人工智能、自动检测与转换技术、光电子技术、系统建模与辨识、计算机控制、自然语言处理

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posted @ 2026-09-30 09:04  科研小猫(努力毕业版)  阅读(4)  评论(0)    收藏  举报