【北京举办 | 北京信息科技大学主办】第二届光学成像与检测技术国际学术会议(OIDT 2026)
重要信息
大会时间:2026年10月30 日-11月1日
大会地点:中国 北京
论文出版
所有的投稿都必须经过2-3位组委会专家审稿,经过严格的审稿之后,最终所有录用的论文将提交至SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X)出版,见刊后提交至EI Compendex, Scopus检索。
征稿主题
纳米光学与显微成像、生物医学光学成像、多光谱与高光谱成像、量子光学与量子成像、光纤传感与检测技术、环境监测光学技术、实时在线检测技术、人工智能辅助光学检测与成像、图像处理算法与增强技术、机器学习与深度学习在成像中的应用、成像链路与图像重建、光子学与微波光子成像、自适应光学与波前调控、太赫兹成像与检测、光学相干层析与散射成像
第二届光学成像与检测技术国际学术会议(OIDT 2026)将于2026年10月30日-11月1日在中国-北京隆重召开。会议将围绕“光学成像”、“检测技术”等相关最新研究领域,为来自国内外高等院校、科学研究所、企事业单位的专家、教授、学者、工程师等提供一个分享专业经验,扩大专业网络,面对面交流新思想以及展示研究成果的国际平台,探讨本领域发展所面临的关键性挑战问题和研究方向,以期推动该领域理论、技术在高校和企业的发展和应用,也为参会者建立业务或研究上的联系以及寻找未来事业上的全球合作伙伴。
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