【SPIE出版 | EI检索】第五届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2026)
【连续四届EI稳定检索,往届快至会后3个月EI检索】
第五届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2026)
2026 5th International Conference on Machine Vision, Automatic Identification and Detection
重要信息
大会时间:2026年4月24-26日
大会地点:武汉东湖学院
主办单位:武汉东湖学院
论文出版
所有的投稿经过严格的审稿之后,最终所录用的论文将由SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X)出版,出版后将提交至EI Compendex和Scopus检索 。
征稿主题
Track 1: 图像处理与计算机视觉
图像/视频处理与分析:图像的获取、压缩、编码、传输、存储与检索。图像修复与增强(如超分辨率成像)、运动与视频分析、抠图、跟踪与监控等...
计算成像与视觉:3D成像、立体与多视图处理、计算几何,基于物理的视觉模型等...
识别与理解:目标识别、人脸与手势识别、生物特征认证(如步态识别),场景理解与图像分割等...
Track 2: 模式识别与机器学习
经典模式识别:统计与结构模式识别、监督与非监督分类(如聚类)、特征降维与贝叶斯方法等...
机器学习与深度学习:深度学习、神经网络、集成学习等算法在视觉中的应用。小样本学习、自监督/迁移学习,面向视觉任务的大模型技术等...
认知与解释性:探索认知与生物启发视觉、视觉中的模糊计算,模型的可解释性等...
第五届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2026)定于2026年4月24至26日在武汉隆重举行。MVAID 2026将围绕“机器视觉”与"自动识别与检测”等相关最新研究领域,为来自国内外高等院校、科学研究所、企事业单位的专家、教授、学者、工程师等提供一个分享专业经验,扩大专业网络,面对面交流新思想以及展示研究成果的国际平台,探讨本领域发展所面临的关键性挑战问题和研究方向,以期推动该领域理论、技术在高校和企业的发展和应用,欢迎各位领域内专家学者投稿参会!
浙公网安备 33010602011771号