【伯德图与运放稳定性】08 用仿真获取环路增益:Tina-TI实操

【伯德图与运放稳定性】08 用仿真获取环路增益:Tina-TI/LTspice实操


1、 仿真相比手工分析的优势

1.1 手工分析要拆两条曲线

前面几章的稳定性分析,用的都是闭合速率法。

闭合速率法的核心,是把环路增益拆成两条曲线:

\[20\log|T(s)| = 20\log|A_{ol}(s)| - 20\log\left|\frac{1}{F(s)}\right| \]

一条是运放的开环增益 \(A_{ol}\),从数据手册读;另一条是反馈网络的倒数 \(1/F\),自己算。两条曲线画在同一张伯德图上,相减就是环路增益。然后看两条曲线在交点处的闭合速率,判断稳定性。

这个方法的好处是快,一张纸一个计算器就能做初步判断。但它有两个明显的缺陷。

第一,拆开之后,我们看到的始终是两条独立的曲线,而不是环路增益本身。要知道 0dB 频率在哪里,得先找交点;要知道相位裕度是多少,得从两条曲线各自推断相位,再相加。整个过程是间接的。

第二,\(A_{ol}\) 和 \(1/F\) 都是从简化假设得到的。\(A_{ol}\) 是数据手册典型值,\(1/F\) 忽略了寄生参数。两条曲线各自有误差,相减之后误差会放大。

1.2 仿真可以直接得到环路增益

仿真就没有这个问题。

在仿真软件中,只要在环路中正确插入断点,配置好激励源和输出探针,运行一次交流分析,软件就会直接给出环路增益 \(T(s)\) 的伯德图。

一整条幅频曲线,一整条相频曲线,直接画出来。不需要拆成两条,不需要相减,不需要推断相位。0dB 频率在哪里,游标一放就知道;相位裕度是多少,直接读相位值。整个过程是直接的。

这就是仿真相比手工分析最大的优势。它把“间接推断”变成了“直接测量”。

当然,仿真也有局限,这一点后面会讲。但首先要知道它能做到什么,然后在实际工作中把它放在合适的位置。

那么,仿真具体怎么操作?测量环路增益有哪些讲究?下面从基础操作讲起。


2 、先熟悉基础操作

2.1 RC低通滤波器

在测量环路增益之前,先用一个简单的RC低通滤波器熟悉Tina-TI的交流分析操作。

搭一个RC低通电路:输入接交流电压源 \(V_{G1}\),串联电阻 \(R_I = 1\text{k}\Omega\),输出端接电容 \(C_I = 1\mu\text{F}\) 到地,输出端再接一个电压探针 \(V_{F1}\)。

image

这个电路的截止频率是:

\[f_c = \frac{1}{2\pi R_I C_I} = \frac{1}{2\pi \times 1000 \times 10^{-6}} \approx 159\text{Hz} \]

在Tina-TI中,依次点击“分析”菜单、“交流分析”、“交流传输特性”,弹出对话框。设置起始频率为0.1Hz,终止频率为1MHz,扫描类型为对数,采样数为100,勾选“振幅和相位”,点击确定。

image-1

运行之后,Tina-TI会自动弹出一个伯德图窗口。上方是幅频曲线,下方是相频曲线。横轴都是频率,对数坐标。

在幅频曲线上,低频段增益为0dB,在159Hz附近开始下降,高频段以-20dB/dec的斜率下降。在相频曲线上,低频段相位为0°,在159Hz附近为-45°,高频段趋近-90°。

image-2

Tina-TI的伯德图上可以用游标读取具体数值。把游标拖到某个频率上,就能看到该频率对应的增益和相位。

这个功能在后面测量相位裕度时非常重要。因为相位裕度的定义是:在环路增益0dB频率处,相位距离-180°的差值。所以必须把游标准确地放在0dB频率上,读取该频率处的相位。

基础操作熟悉了,接下来就要进入正题:怎么测环路增益。


3 测量环路增益:大电感法与断点

3.1 先从跟随器开始

要测环路增益,最简单的一个例子是运放跟随器。

为什么选它?因为跟随器的反馈系数 \(F = 1\)。环路增益 \(T = A_{ol} \times F = A_{ol}\)。也就是说,跟随器的环路增益就是运放的开环增益本身。测跟随器,就等于在测运放的开环增益。

这是一个最简单的环路增益测试场景。如果连这个最简单的场景都搞不定,后面复杂电路就更不用说了。所以本章先用跟随器把测量方法讲清楚,再推广到复杂电路。

3.2 直接闭环和直接开环测量

先试试最简单的方法。

保持电路闭环,把激励源加在同相端,探针放在输出端,跑交流分析。结果得到的是一条低频平坦、高频下降的曲线,低频段增益约 0dB。这不是运放的开环增益,而是闭环增益。环路增益被闭环本身“藏”起来了。

image-3

把反馈线断开,反相端接地,激励源加在同相端,探针放在输出端,跑交流分析。结果也不对。增益很低,曲线形状也不正常。原因是运放开环之后失去了负反馈,工作点完全乱了,输出饱和到正电源或者负电源,根本不是正常工作状态。

image-4

闭环测到的是闭环增益,开环工作点又不对。

3.3 使用大电感作为“断点”

问题的本质是:我们需要的是一种折中状态——电路在直流状态下闭环,工作点正常;在交流状态下开环,环路可以独立测量。

电感正好满足这个需求。 电感的阻抗是 \(j\omega L\)。直流时 \(L\) 的阻抗为 0,相当于短路;交流时阻抗随频率增大,如果 \(L\) 足够大,在仿真频率范围内可以近似为开路。

在反馈环路中插入一个 1TH(1T 亨利)的大电感,就可以实现:

  • 直流状态下,电感短路,环路闭合,运放正常工作;
  • 交流状态下,电感开路,环路断开,可以独立测量环路增益。

image-5

插入大电感之后,环路实际上被切成了两段。

以跟随器为例。原来的环路是:输出 → 反馈线 → 反相端 → 运放 → 输出。插入大电感后,反馈线被切成两段:

  • 断点之前:靠近输出端的那一段;
  • 断点之后:靠近反相端的那一段。

之所以叫“之前”和“之后”,是按环路信号的流向定义的。信号从反相端出发,经过运放放大到输出,再从输出经过反馈网络回到反相端。所以输出端是上游,反相端是下游。

3.4 加入“断点”后测量

加入1T的大电感在反馈线上后,我们再来执行一下交流分析,但是的出来的伯德图还是不对劲,增益太低,虽然有一点运放开环放大曲线的感觉了。

image-6

原因很简单。跟随器的反相端原本直接连着输出,插了大电感之后,交流上就被切断了。此时反相端没有任何对地的交流通路,在仿真软件看来就是一个“悬空节点”。

仿真软件内部用 MNA(改进节点分析)法求解电路,需要为每个节点列写 KCL 方程。如果某个节点悬空,矩阵就可能奇异,仿真直接报错;或者即使能算,运放内部的寄生电容会与这个悬空节点产生难以预料的谐振,导致仿真出来的曲线在特定频率出现剧烈的尖峰、凹陷或相位突变,完全反映不了运放真实的 \(A_{ol}\)。

解决办法:在跟随器的反相端到地之间加一个 1TF 大电容。这个电容在仿真频率范围内相当于短路,给反相端提供一个明确的交流对地通路。

这个电容是仿真技巧,不是真实物理电路。 它只在交流分析时起作用,为仿真求解器提供一个确定的数学参考点,数学上等效于“把反相端交流接地”。

但要注意:这个 1TF 电容不是所有电路都要加。 同相放大器、反相放大器的反相端已经有 \(R_1\)(或 \(R_i\))到地,本身就是交流通路,不需要额外加大电容。强行加反而会短路 \(R_1\),破坏反馈网络。判断原则是:看反相端在交流上有没有明确的对地通路。 在负端接一个1TF的带内容到地后,再次测量,可以看到这次测量的开环增益就与手册上的开环增益差不多了。

image-7

4、确定激励源和探针的位置

在上面的跟随器电路中,我们是把跟随器电路的激励源放正端,探针放输出端,这也很符合这个电路的特征:跟随器的输入信号接在正端,输出信号来自输出端。但是,如果是前面我们讨论过的恒流源电路呢,它的输出是电流,我们需要把电压探针换成电流探针吗。

4.1 以断点为中心来确定激励源和探针的位置

我们测的是环路增益,也就是信号绕环路走一圈的增益。我们以一个简单的同向放大电路为例子,同向放大电路包含两个环节:运放的放大,和反馈网络的分压。

image-8

按照电路设计的思路,我的输入信号在同相端,输出信号在运放的输出端。那么激励源放在同向端,探针放在运放的输出端看起来是一个非常正常的选择对吧,毕竟我们对这个同向放大电路的直流仿真也是这么放置的。

image-9

但是,这里要注意,我门这里测量的是电路的环路增益,在这个电路中,激励源放在同相输入端,探针放在运放输出端,就会发现,无论断点放在断点1还是断点2,我们都无法测量到环路增益 \(A_{ol}*F\) ,探针只能测得运放的开环增益\(A_{ol}\)。

image-10

怎么让探针测量到整个环路增益呢?答案就在断点上。断点把环路切成两段:断点之前(靠近输出),断点之后(靠近反相端)。把激励源接在断点的输出端(也就是断点之后,靠近反相端那一侧),探针接在断点的输入端(也就是断点之前,靠近输出那一侧)。

例如在上面的框图中,我们设置断点2,把激励源放置在断点靠近\(F\) 端,探针放置到靠近\(V_{out}\),这样,信号从激励源出发,路径是:

  • 激励源 → 反馈网络 → 反相端 → 运放 → 输出 → 断点之前(探针位置)

一路走下来,正好经过了反馈网络的 \(F\) 和运放的 \(A_{ol}\),一圈完整。测到的就是 \(A_{ol} \times F\),也就是环路增益。

image-11

用同相放大器验证一下。\(R_1 = 1\text{k}\),\(R_2 = 9\text{k}\),\(F = 0.1\)。断点在 \(R_2\) 和输出节点之间,断点之前是输出侧,断点之后是 \(R_2\) 靠近 \(N_1\) 的那一端。把激励源接在断点之后:

  • 激励信号进入 \(R_2\),与 \(R_1\) 分压,\(V_{N1} = V_{in} \times F\);
  • 运放放大到输出,\(V_o = -A_{ol} \times V_{in} \times F\);
  • 探针放在断点之前(也就是输出端),测到的传递函数就是 \(-A_{ol} \times F\)。

幅值就是环路增益,一次测量直接得到。

image-12

对比一下放在正端的做法。如果激励源放在正端,探针放在输出端,信号从正端直接进运放,不经过反馈网络。测到的是 \(A_{ol}\),不是 \(A_{ol} \times F\)。跟随器因为 \(F = 1\),碰巧结果一样,但这只是特例。对于 \(F \neq 1\) 的电路,放在正端得到的曲线会偏大 \(1/F\) 倍。

image-13

所以,测环路增益的正确姿势是:以断点为中心来定激励源和探针的位置。 激励源接断点的输出端(之后),探针接断点的输入端(之前)。断点选在哪里,激励源和探针的位置就随之确定。

这里要强调一个观念:测环路增益时,激励源和探针的位置是根据断点决定的,不一定要和电路实际信号路径一致。 电路实际工作时,信号从哪里进、从哪里出,是电路功能决定的。但测环路增益是另一件事,用断点来定位置就行。

那如果还想同时看到 \(A_{ol}\)、\(F\) 单独的曲线呢?这也不难。在第 8.4 节确定好断点位置之后,在关键节点再加几个探针就行。这是加法,不是另一条路。具体做法放在第 8.5 节。

4.2 隔直电容

激励源和断点之后的位置之间,通常要串联一个隔直电容,防止激励源的直流分量影响运放的工作点。隔直电容的容值要足够大,在最低分析频率下阻抗也要足够小。取 1TF 是一个简单做法,保证在仿真频率范围内相当于短路。

image-14


5、 断点怎么选

上面用的是跟随器这种简单电路,反馈回路上只有一根导线,断点位置很明确。但对于带反馈网络和负载的电路,反馈回路上有多个节点,可以插入电感的位置就不止一个。不同位置的断点,测到的环路增益可能不一样。这一节专门讨论断点位置的选择。

5.1 三个典型的断点位置

以一个带反馈网络和负载的跟随器为例。反馈网络由 \(R_F\) 和 \(C_F\) 并联组成,从反相端接到输出端。输出端还接入了一个负载,由 \(R_L\) 和 \(C_L\) 串联组成。

这个电路有三个可以插入断点的位置。

  • 断点1:反相端和反馈网络之间。
  • 断点2:运放输出和外部节点之间。
  • 断点3:反馈网络和输出节点之间。

image-15

按照上一节的规则,无论选哪个断点,激励源都必须放在断点的输出端(之后),探针放在断点的输入端(之前)。所以三个断点对应三组不同的激励源和探针位置。三种情况下包含的电路参数不一样,测到的环路增益也就不一样。

5.2 不同断点包含的参数不一样

断点1:插在反相端和反馈网络之间。交流分析时反相端和反馈网络断开。测到的传递函数包含:\(A_{ol}\)、\(R_o\)、\(R_F\)、\(C_F\)、\(R_L\)、\(C_L\)。但反相端的输入电容 \(C_{IN}\) 和输入电阻 \(R_{IN}\) 不包含在内,因为它们被大电感隔离了。

image-16

根据KCL和KVL可以计算得到

\[V_1 = A_{ol} * \{(V_+) - (V_-)\} \]

\[V_+ = 0 \]

\[V_- = V_{in} \]

得到:

\[V_1 = -A_{ol} * V_{in} \]

\[\frac{V_1 - V_o}{R_o} = \frac{V_o}{R_L + \frac{1}{S C_L}} = \frac{-A_{ol} * V_{in} - V_o}{R_o} \]

\[\frac{V_o}{V_{in}} = \frac{A_{ol} * (1 + R_L * S C_L)}{1 + S(R_o + R_L) * C_L} \]

断点2:插在运放输出和外部节点之间。交流分析时运放输出和外部节点断开,负载接在外部节点上,但不参与从激励源到探针的传递函数。测到的传递函数包含:\(A_{ol}\)、\(R_o\)、\(R_F\)、\(C_F\)、\(R_{IN}\)、\(C_{IN}\)。但负载 \(R_L\) 和 \(C_L\) 的影响被漏掉了。

image-17

在交流视角下,运放输出断开

\[V_1 = V_o \]

\[V_1 = V_o = A_{ol} * \{(V_+) - (V_-)\} \]

\[\frac{V_{in} - (V_-)}{Z_F} = \frac{V_-}{Z_{in}} \]

\[Z_F = \frac{R_F * \frac{1}{S C_F}}{R_F + \frac{1}{S C_F}} \]

\[Z_{in} = \frac{R_{in} * \frac{1}{S C_{in}}}{R_{in} + \frac{1}{S C_{in}}} \]

\[V_o = A_{ol} * \{(V_+) - (V_-)\} \]

\[V_+ = 0 \]

\[V_o = -A_{ol} * (V_-) \]

\[\frac{V_o}{V_{in}} = \frac{A_{ol} * R_{in} * R_F * C_F * (S + \frac{1}{R_F * C_F})}{R_{in} + R_F + S * R_{in} * R_F * (C_{in} + C_F)} \]

断点3:插在反馈网络和输出节点之间。交流分析时反馈网络和输出节点断开,负载仍然接在输出节点上,需要包含在测量路径里。测到的传递函数包含:\(A_{ol}\)、\(R_o\)、\(R_F\)、\(C_F\)、\(R_{IN}\)、\(C_{IN}\)、\(R_L\)、\(C_L\)。这个断点包含了电路中所有的参数。

image-18

\[\frac{V_1 - V_o}{R_o} = \frac{V_o}{R_L + \frac{1}{S C_L}} \]

\[\frac{V_{in} - (V_-)}{Z_F} = \frac{V_-}{Z_{in}} \]

\[Z_F = \frac{R_F * \frac{1}{S C_F}}{R_F + \frac{1}{S C_F}} \]

\[Z_{in} = \frac{R_{in} * \frac{1}{S C_{in}}}{R_{in} + \frac{1}{S C_{in}}} \]

\[V_o = A_{ol} * \{(V_+) - (V_-)\} \]

\[V_+ = 0 \]

\[V_o = -A_{ol} * (V_-) \]

转换一下,得到传递函数:

\[\frac{V_o}{V_{in}} = \frac{A_{ol} * R_{in} * (1 + S * R_L * C_L) * (1 + S * C_F * R_F)}{\{1 + S * C_L(R_L + R_o)\} \{R_F + R_{in} + S * R_F * R_{in} * (C_{in} + C_F)\}} \]

总结一下

image-19

5.3 仿真实测:无负载时三个断点差不多

先做最简单的验证:把负载去掉,只保留反馈网络。分别在三个断点插入电感,按“激励源在断点输出端,探针在断点输入端”的规则测量环路增益。

仿真结果:三个断点测到的相位裕度都是 80.2°。

为什么一样?因为电路里除了反馈网络,没有其他元件参与环路。反相端的输入阻抗 \(R_{IN}\) 和 \(C_{IN}\) 虽然被断点1漏掉了,但它们的值很大,对结果影响很小。所以三个断点差不多。

image-20

5.4 加上负载:断点2开始偏乐观

把负载 \(R_L\) 和 \(C_L\) 加回去,重新仿真。

这次结果变了。断点1和断点3测到的相位裕度都是 65.85°。而断点2测到的相位裕度仍然是 80.2°。

为什么断点2不一样?因为断点2把负载隔离掉了。负载接在外部节点上,而传递函数是从外部节点到运放输出的,负载在这个传递函数中不产生影响。

这就是断点2的问题:它漏掉了负载的影响。在很多实际电路中,负载电容是影响稳定性的重要因素。如果只看断点2的结果,可能会误以为电路很稳定,实际却不稳定。

image-21

5.5 加上杂散电容:断点1的问题暴露

再把杂散电容加上,看看断点1的问题。

在运放反相端到地接一个 100pF 的电容 \(C_2\),模拟实际 PCB 上的杂散电容。

重新仿真三个断点。

这次结果差异更明显。断点1测到的相位裕度仍然是 65.85°,和没有杂散电容时一样。断点2测到的相位裕度降到 26.52°。断点3测到的相位裕度降到 17.58°。

为什么断点1没有变化?因为断点1插在反相端和反馈网络之间,杂散电容 \(C_2\) 在断点的外侧(反相端一侧),被大电感隔离了,不参与环路增益。

为什么断点2和3有变化?因为杂散电容在断点的内侧(反馈网络一侧),参与了环路增益。断点3包含的参数最全,杂散电容的影响也最完整,所以相位裕度下降最多。

image-22

5.6 应该选哪个断点

综合上面的对比,结论是:

断点3最准,优先选用。 它包含了电路中所有参数:运放、反馈网络、负载、反相端杂散电容。测到的环路增益最接近实际。

断点1次之,但要额外考虑反相端杂散电容。 断点1会漏掉反相端的杂散电容和输入阻抗。如果这些参数的影响很小,用断点1也可以。但如果反相端有较大的杂散电容,断点1的结果就会偏乐观。

断点2不推荐。 它漏掉了负载,而负载在大多数电路里都是影响稳定性的重要因素。用断点2仿真,结果偏乐观。


6、 加额外探针,分离出 Aol、F 等曲线

断点位置定好之后,测量环路增益只需要两个位置:激励源在断点的输出端,探针在断点的输入端。一次测量就得到环路增益 \(T\)。

如果还想同时看到 \(A_{ol}\) 和 \(F\) 的独立曲线,怎么办?在合适的位置再加几个探针就行。这是加法的问题,不是另起一条路线。

以同相放大器为例。断点3选定之后,激励源接在断点之后(\(R_2\) 靠近 \(N_1\) 的那一端),探针放在断点之前(输出端)。跑一次交流分析,得到环路增益。

现在想同时得到 \(A_{ol}\) 和 \(F\)。在电路上再放两个探针:

  • \(N_1\):运放反相端节点;
  • \(N_2\):断点之后的位置(也就是激励源接入的那个节点)。

配合原来的输出探针 \(N_3\),得到三根曲线。

image-23

这三根曲线之间有确定的关系:

  • \(N_1\) 是 \(N_2\) 经过 \(R_1\)、\(R_2\) 分压得到的,所以 \(F = N_1 / N_3\);
  • \(N_3\) 是 \(N_1\) 经过运放放大得到的,所以 \(A_{ol} = N_2 / N_1\);
  • 环路增益就是两者的乘积:\(T = A_{ol} \times F = N_2 / N_3\)。

在 Tina-TI 中,可以直接把这几根曲线相除,得到三个独立的曲线。操作方法是:在波形窗口的图例中,右键点击某根曲线,选择“曲线运算”或类似的菜单项;输入运算表达式,比如 N1/N3,回车;Tina-TI 会自动画出这条新曲线。

image-24

image-25

image-26

image-27

image-28

加探针的好处是:一次测量可以得到 \(A_{ol}\)、\(F\)、\(T\) 三根曲线。\(A_{ol}\) 曲线可以看到运放本身的频率特性,\(F\) 曲线可以看到反馈网络的零极点,\(T\) 曲线就是稳定性分析需要的环路增益。如果相位裕度不足,可以对照 \(A_{ol}\) 和 \(F\) 判断是哪一级贡献了额外的相位滞后,从而有针对性地补偿。

如果只需要判断相位裕度,不加额外探针就够了。需要深入分析时再加探针,这就是一个加法的问题。


7、 用实例走一遍完整流程

7.1 电路和参数

用一个同相放大电路,完整走一遍仿真流程。

电路参数:运放 OP07,\(R_1 = 1\text{k}\Omega\),\(R_2 = 9\text{k}\Omega\),闭环增益 10 倍(20dB)。反馈网络中没有电容,负载暂时不加。

选断点3,在 \(R_2\) 和输出节点之间插入大电感 \(L_1 = 1\text{T}\)。激励源通过隔直电容 \(C_2 = 1\text{T}\) 接在断点的输出端(\(R_2\) 靠近 \(N_1\) 的那一端)。主探针放在断点的输入端(输出节点)。

注意:这个同相放大电路不需要在反相端加大电容。反相端已经有了 \(R_1\) 到地,本身就是交流通路。

7.2 先检查直流工作点

在跑交流分析之前,先跑一次直流分析,检查各节点直流电压。

正常的情况应该是:同相端电压为 100mV,反相端电压也约为 100mV,输出端电压约为 1V(闭环增益 10 倍)。如果这些电压不对,说明电路连接有问题,或者运放的电源电压不对。先解决直流问题,再跑交流分析。

image-29

7.3 跑交流分析并读取相位裕度

直流工作点正常后,跑交流分析。设置起始频率 0.1Hz,终止频率 10MHz,扫描类型对数,采样数 100。

运行后,Tina-TI 生成伯德图。由于激励源放在断点之后,测到的传递函数就是环路增益。

在伯德图上,找到幅频曲线穿过 0dB 的频率,把游标放在这个频率上,读取相位值,该相位值就是相位裕度。

image-30

在这个例子里,假设交越频率是 59.88kHz,相位裕度是 88.92°。这个结果说明电路非常稳定。

7.4 追加探针,看 Aol 和 F

如果还想看 \(A_{ol}\) 和 \(F\) 的独立曲线,在前面讲的方法里,在反相端加探针 \(N_1\),在断点之后加探针 \(N_3\),输出端的主探针记为 \(N_2\)。跑一次交流分析,得到三根曲线。用 Tina-TI 的曲线运算功能,分别做:

  • N3/N1:得到 \(1/F\) 曲线;
  • N2/N1:得到 \(A_{ol}\) 曲线;
  • N2/N3:得到环路增益 \(T\) 曲线。

image-31

对比 N3/N2 得到的 \(T\) 曲线,应该和 8.6.3 中直接测量的 \(T\) 完全一致。这说明两种做法测到的是同一个环路增益,只是信息量不同。


8、 仿真的局限

8.1 模型准确性决定仿真质量

仿真结果的准确性,取决于 SPICE 模型的准确性。

运放模型通常由厂家提供,质量参差不齐。有些模型非常详细,能准确反映运放的实际行为;比如我们的例子中,Tina内置的模型有些简化了很多,可能漏掉一些重要的频率特性。

MOS 管模型也是一样。\(C_{gs}\)、\(C_{gd}\)、\(g_m\) 这些参数随电压和温度的变化,可能没有完全建模。如果仿真条件和实际工作条件差得远,仿真结果可能不准。

8.2 寄生参数默认没有加进去

第 7 章讲的很多寄生参数,在默认的仿真模型中是不包含的。

运放引脚的杂散电容、PCB 走线的寄生电感、电容的 ESR 和 ESL,这些在原理图上是不存在的,需要手动添加。如果不加,仿真结果会偏乐观。

在稳定性要求高的场合,应该在仿真电路上手动加上这些寄生参数。比如,在运放反相端和地之间加一个估计的杂散电容,在输出走线上加一个估计的寄生电感。

8.3 仿真和实测的差距

仿真和实测之间总会有差距,原因有几个。

第一,器件的离散性。仿真用的模型是典型值,实际器件的参数可能有偏差。

第二,温度的影响。仿真通常在室温下进行,实际电路可能工作在更宽的温度范围。

第三,布局的影响。仿真电路是理想连线,实际 PCB 上有走线电阻、过孔、寄生电容。

第四,负载的变化。仿真通常假设负载固定,实际应用中负载可能变化。

所以,仿真是一个重要工具,但不能完全替代实测。最可靠的方法是用仿真做初步验证,再用实测做最终确认。

posted @ 2026-10-04 19:22  纠伦  阅读(4)  评论(0)    收藏  举报