ADC 采样：单次、扫描与内部温度传感器

本篇是《Zig 裸机开发实战：STM32F103ZET6 全栈解析》系列第 16 篇。上一篇：SPI 总线：W25Q64 Flash 读写与 ID 识别，下一篇：内部 Flash 编程：参数持久化与页擦除，目录见文末。

ADC 采样：单次、扫描与内部温度传感器

导读

前面几篇都在"往外送"数字信号，这一篇往里收模拟世界：电位器的角度、电池电压、芯片自己的体温。F103ZET6 有 3 个 12 位 ADC（ADC3 只有 144 脚封装才有，是 ZET6 的专属福利），21 个通道、2.4 µs 级转换。microzig 给了两套互不兼容的 API：简单版 ADC（8 个方法，够用 90% 场景）与完整版 AdvancedADC（40+ 个方法，注入组、双 ADC、DMA），还有一串"拼写照抄"的字段名（aling、continuos、set_DMA、set_indedpended）。本篇从单次采样讲到扫描序列，再用 CH16（内部温度传感器）与 CH17（内部基准）讲两个"没有引脚的通道"——包括用 Vrefint 反推 VDDA 来修正电源波动的标准手法，最后把 DMA 连续采样接到第 13 篇的通道分配表上。

为什么需要理解 ADC 的三层结构

把 3.3 V 世界变成 0–4095 的数字，F103 的 ADC 要过三道闸：

通道闸（MUX）：21 个输入通道（IN0–IN15 对应 PA0–PA7、PB0–PB1、PC0–PC5，IN16–IN18 是内部温度、Vrefint、VBAT）多路复用到 ADC 核。引脚必须配 .analog 输入模式——数字输入的施密特触发器会干扰模拟采样，这是"读数乱漂"的经典原因。
时钟闸（ADCPRE）：ADC 核的时钟上限 14 MHz，来源是 PCLK2（72 MHz）分频 2/4/6/8。72 MHz 配置下选 /6 = 12 MHz——这是本系列的标准选择，留有余量又不浪费速度。
采样闸（SMPx）：每个通道独立的采样时间，1.5 到 239.5 个 ADC 时钟周期。采样期间内部采样电容（约 8 pF）充电到输入电压，之后才断开进行 12.5 周期的逐次逼近。

三层里最值得展开的是采样时间与源阻抗的关系。采样电容充电遵循 RC 曲线，源阻抗（信号源内阻 + 外部串联电阻）越大，电容充到位的时间越长。RM0008 给出的工程结论：采样时间必须满足

T_samp ≥ R_src × C_sample × ln(2^12) ≈ 8.3 × R_src × C_sample

代入 C_sample ≈ 8 pF：源阻抗 10 kΩ 时约需 0.66 µs ≈ 8 个 ADC 时钟；10 kΩ 电位器配 239.5 周期（约 20 µs）绰绰有余。反过来，若你直接接高阻抗传感器（100 kΩ+）却用了 1.5 周期采样，电容没充满就断开，读数系统性偏低——这比噪声难查得多，因为它是确定性偏差。经验法则：阻抗未知就先用最长采样时间 239.5，确认能跑再优化吞吐。

一次完整转换的时间 = 采样时间 + 12.5 周期。12 MHz 下 239.5 档约 21 µs（约 4.8 万次/秒），1.5 档约 1.17 µs（约 85 万次/秒）——这是单通道的吞吐天花板，再往上就要 DMA 连续流。

代码案例：电位器 + 内部温度 + Vrefint 修正

const std = @import("std");
const microzig = @import("microzig");
const stm32 = microzig.hal;
const rcc = stm32.rcc;
const gpio = stm32.gpio;
const time = stm32.time;

pub const panic = microzig.panic;
pub const std_options = microzig.std_options(.{ .logFn = stm32.uart.log });
comptime {
    _ = microzig.export_startup();
}

// 数据手册典型值（DS5312 §5.3.22），每颗芯片有偏差，量产需校准
const V25: f32 = 1.43;      // 25 度时的传感器电压
const AVG_SLOPE: f32 = 0.0043; // 4.3 mV / 度

fn adc_to_temp(val: u16) f32 {
    const mv = (@as(f32, @floatFromInt(val)) / 4096.0) * 3300.0;
    return ((V25 * 1000.0 - mv) / (AVG_SLOPE * 1000.0)) + 25.0;
}

pub fn main() !void {
    _ = try rcc.apply(.{
        .SYSCLKSource = .PLL1_P,
        .PLLSourceVirtual = .HSE_Div_PREDIV,
        .PLLMUL = .Mul9,
        .APB1CLKDivider = .Div2,
        // ADCPRE 是 PCLK2 的分频，72/6 = 12 MHz（<=14 MHz 上限）
        .ADCPresc = .Div6, // 仓库内只逐字验证过 .Div2，Div6/Div8 的枚举名以本地生成为准
        .RTCClockSelection = .LSI,
        .flags = .{ .HSEOscillator = true, .RTCUsed_ForRCC = true, .USE_ADC1 = true },
    });
    time.init_timer(.TIM4);

    rcc.enable_clock(.GPIOA);
    rcc.enable_clock(.USART1);
    rcc.enable_clock(.ADC1);

    // PA1 = ADC1_IN1，模拟输入模式
    const pot = gpio.Pin.from_port(.A, 1);
    pot.set_input_mode(.analog);

    const tx = gpio.Pin.from_port(.A, 9);
    tx.set_output_mode(.alternate_function_push_pull, .max_50MHz);
    try uart.apply_runtime(.{ .clock_speed = rcc.get_clock(.USART1) });
    stm32.uart.init_logger(&uart);

    const adc = stm32.adc.ADC.init(.ADC1);
    adc.enable(); // 忘了这行，read 系列返回 error.ADCNotEnabled

    // 通道 16（温度）与 17（Vrefint）阻抗高，用最长采样时间
    adc.set_channel_sample_rate(16, .@"239.5");
    adc.set_channel_sample_rate(17, .@"239.5");
    adc.set_channel_sample_rate(1, .@"239.5"); // 10k 电位器，先求稳

    // 扫描序列：温度、Vrefint、电位器，一次触发依次转换
    adc.load_sequence(&.{ 16, 17, 1 });

    var buf: [3]u16 = undefined;
    var window: [8]f32 = @splat(0); // 滑动窗口均值
    var win_idx: usize = 0;

    while (true) {
        const results = try adc.read_multiple_channels(&buf);
        const raw_temp = results[0];
        const raw_vref = results[1];
        const raw_pot = results[2];

        // Vrefint 反推真实 VDDA：基准典型 1.20V，读数 = VDDA * 1.20 / Vref(满量程)
        // 12 位满量程 4096：VDDA = 1.20 * 4096 / raw_vref
        const vdda: f32 = (1.20 * 4096.0) / @as(f32, @floatFromInt(raw_vref));

        // 温度换算用真实 VDDA 而非标称 3.3V，消除电源波动
        const temp = blk: {
            const mv = (@as(f32, @floatFromInt(raw_temp)) / 4096.0) * vdda * 1000.0;
            break :blk ((V25 * 1000.0 - mv) / (AVG_SLOPE * 1000.0)) + 25.0;
        };

        // 电位器：滑动窗口均值滤波
        window[win_idx] = (@as(f32, @floatFromInt(raw_pot)) / 4096.0) * vdda;
        win_idx = (win_idx + 1) % window.len;
        var pot_avg: f32 = 0;
        for (window) |v| pot_avg += v;
        pot_avg /= window.len;

        std.log.info("VDDA: {d:.3}V  temp: {d:.1}C  pot: {d:.3}V", .{ vdda, temp, pot_avg });
        time.sleep_ms(500);
    }
}

逐段解析

简单版 ADC 的三个方法：enable、采样率、读

简单版 ADC 的 8 个方法里，本篇用到 4 个，每个都有坑位：

ADC.init(.ADC1)：参数是 comptime 实例。rcc.enable_clock(.ADC1) 必须在 enable 之前——ADC 时钟没开，read_single_channel 里的 while (EOC == 0) 是无超时忙等，程序表现为"卡在第一次读数"。
enable()：置 CR2 的 ADON。它不只是开电源——F103 的 ADON 第一次写是"从休眠唤醒"，需要稳定时间（HAL 内部用 STAB_TIME，默认 1 ms，是个可运行时改的 pub var）。第二次读数前忘 enable 会得到 error.ADCNotEnabled（是错误不是 panic，try 处理即可）。
set_channel_sample_rate(channel, rate)：写 SMPR 的对应档位。通道号是 u5，0–18；采样时间枚举是字符串字面量风格：.@"1.5"、.@"7.5"、.@"13.5"、.@"28.5"、.@"41.5"、.@"55.5"、.@"71.5"、.@"239.5"——写 .239_5 或 .@"239.5cycles" 都不行，@"" 引号是语法的一部分。
read_single_channel(1)：单通道即采即读。内部流程：序列长度设 1 → 序列第 0 槽写通道号 → SWSTART 软件触发 → 轮询 EOC → 读 DR（读 DR 顺带清 EOC）→ 清 STRT。返回 ReadError!u16，原始 12 位右对齐值。

扫描版把"一次配好、多次触发"变成流水线：load_sequence(&.{16, 17, 1}) 把三个通道填进规则序列寄存器 SQR（最多 16+1 槽），read_multiple_channels(&buf) 一次触发、按序列顺序依次转换、把结果按序填回缓冲并返回切片。两个方法共享同一条序列——先 load 后 read 的顺序不能反。

CH16 与 CH17：两个没有引脚的通道

通道 16 是内部温度传感器、17 是内部参考电压（Vrefint），它们直接连在 ADC 输入 MUX 上，不需要配任何引脚。但有两个前置条件：CR2 的 TSVREFE 位要置 1（把传感器与基准接通——完整版 AdvancedADC 有专门的 enable_reftemp()，简单版跟随上游示例 adc.zig 的用法直接读；若读数恒为 0 或乱值，先查这一位，寄存器直写是 CR2 bit23）；采样时间必须长（这两个源阻抗极高，RM0008 要求 ≥ 2.2 µs，推荐 17.1 µs 以上，239.5 档的约 20 µs 正合适）。

CH17 的价值：反推 VDDA。 ADC 的量化公式是 读数 = 输入电压 / VDDA × 4096——分母是真实电源电压，不是你标称的 3.3 V。USB 供电 3.1 V、LDO 带载压降 3.2 V，都会让所有读数整体漂移。Vrefint 是片内带隙基准，典型 1.20 V 且几乎不随 VDDA 变化，于是它自己就成了"尺子上的刻度"：

VDDA(实际) = 1.20 V × 4096 / CH17 读数

VDDA 偏低 → CH17 读数偏大 → 反推出的 VDDA 变小 → 用它做分母的其他换算自动修正。示例里温度与电位器电压的换算都吃这个修正。要诚实说明一点：F103 没有出厂校准的 Vrefint 标定值（F0/F3/F4 系列才有 factory cal，可在系统存储里读），所以 1.20 V 是典型值（数据手册容差约 ±10 mV 量级），这套修正消除的是电源波动（百分比级），修不掉基准自身的绝对偏差（需要外部万用表一次性标定）。

CH16 的公式与误差。 温度传感器输出 V25 = 1.43 V（25 °C）、斜率 4.3 mV/°C，换算就是上游 adc.zig:16-22 的逐字公式（本篇把它改写成用真实 VDDA）：

T(°C) = (V25 − V_sensor) / 4.3mV + 25

误差来源要心里有数：V25 与斜率都是典型值，数据手册标注每颗芯片的偏差可以到 ±1–2 °C 以上；自发热（CPU 满载比环境高 5–10 °C）让读数偏离室温。所以它适合"过温保护阈值""发热趋势监测"，不适合当温度计卖。量产校准的办法：已知环境温度下单点记录读数，平移修正。

AdvancedADC 扫一眼：注入组、双 ADC 与拼写字典

完整版 AdvancedADC（40+ 方法，全 HAL 最大单文件）的超能力按需取用：

注入组（injected）：独立的 4 通道转换队列，可以"插队"打断规则组——电机控制里电流环的过采样用它，保证采样时刻绝对由定时器触发。
双 ADC 模式：configure_dual_mode 让 ADC1/ADC2 同步采样（Regular/Injected 同时、交替、交叉交错），两路 16 位结果打包进一个 32 位字由 DMA 一次搬走——上游 adc_dualmode.zig 是现成范本（AdcData = packed struct(u32) { adc1: u16, adc2: u16 } + memory_size = .Bits32）。
DMA 与中断：set_DMA(true) 置 CR2 的 DMA 位，规则组每完成一次转换发一次 DMA 请求，映射到 DMA1_Channel1（第 13 篇的映射表）。

拼写彩蛋要专门立个字典，这些字段名照抄上游、拼写即真理：

正确英语	上游实际拼写	出处
alignment	`aling`	`set_data_alignment(self, aling: Alignment)`
continuous	`continuos`	`set_regular_seq(seq, continuos: bool)`
DMA	`set_DMA`（大写）	`set_DMA(self, set: bool)`
independent	`set_indedpended`	`set_indedpended(adc1)`

AdvancedADC.enable(calib: bool) 还带一个参数：上电校准（内部电容阵列的自校准，建议 enable(true)）——这是简单版没有的能力，追求精度时是升级理由之一。

滑动窗口滤波：8 行代码的真功夫

示例对电位器用了滑动窗口均值：8 个最近样本存进环形数组，每次全加求平均。它与"连续采 16 次取平均"的差别在于响应速度——后者每次输出要等 16 次新采样，滑动窗口每来一个新样本就更新一次输出，平滑与延迟兼得。窗口大小是噪声抑制与响应延迟的直接交换：8 样本 × 500 ms = 4 s 的等效时间常数，电位器转动后约 2 s 读数稳定；要更快就缩窗口，要更平滑就加长。

对抗 50 Hz 工频干扰还有一招：让采样窗口恰好对齐 20 ms 的整倍数（本例 8 × 500 ms 远超，天然抑制），或把采样率配成 50 Hz 的整数倍后做整周期平均。ADC 抗干扰的完整武器库还包括：Vrefint 修正（本篇）、输入 RC 前置滤波（1 kΩ + 100 nF 到地）、模拟走线远离 PWM 线。软件滤波永远只是最后一道防线——garbage in, garbage averaged。

运行现象

烧录后串口每 500 ms 一行：

VDDA: 3.291V  temp: 31.4C  pot: 1.652V

转电位器：pot 从 0 爬到接近 VDDA 读数，滑动窗口让它略带"惯性"——快速转动时读数滞后约 2 s 追上。
手指按住芯片：temp 在几十秒内缓缓上升 3–5 °C——这是芯片自发热与你的体温叠加，传感器确实在工作。对它吹口气，读数会小幅下降（气流散热）。
换电源验证 Vrefint 修正：把供电从 USB 换到电池（或串一个二极管压降 0.7 V），VDDA 读数同步下降约 20%，而 pot 换算出的电压几乎不变——没有修正的话它会凭空"缩水" 20%。
采样时间实验：把通道 1 的采样率改成 .@"1.5"，在电位器上并联一个 100 nF 电容——读数依旧稳定；撤掉电容、在 PA1 串一个 100 kΩ 电阻再试，读数系统性偏低且旋到两端偏差更大——源阻抗与采样时间的活教材。
read_multiple_channels 返回的切片长度是 3（序列长度），若你把 buf 配小了，Debug 构建下会越界 panic——缓冲长度必须 ≥ 序列长度。

常见问题

Q1：read_single_channel 卡死不返回。

卡点在 while (EOC == 0) 的无超时忙等，四个嫌疑：① rcc.enable_clock(.ADC1) 没调——寄存器写不进去，SWSTART 无效；② adc.enable() 没调——返回的应该是 error.ADCNotEnabled 而不是卡死，所以先排除这条；③ ADC 时钟超限或分频错（ADCPresc 写了不存在的值会编译失败，但时钟树没配对会静默）；④ SWSTART 触发了但 EXTSEL 触发源不是软件触发（简单版默认软件触发，AdvancedADC 配过 set_trigger 后忘了改回来）。定位手段：逻辑分析仪看 PA1 有无采样动作没用（内部信号），直接读 SR 寄存器看 EOC/ADONS 位。

Q2：读数永远在 0 附近乱跳，电位器转到头也上不来。

三个经典成因：① 引脚没配 .analog——数字输入的施密特触发器挂在模拟信号上，读数被钳位/污染，这是第一大坑；② 接错通道——PA1 是 IN1（read_single_channel(1)），PA0 是 IN0，照抄别的教程时通道号与接线对不上；③ 电位器两端没接 3.3 V/GND，或中点根本没接 PA1（万用表量 PA1 对地电压应随旋钮变化）。顺带一查：采样时间给了 .@"1.5" 而源阻抗 >10 kΩ 也会系统性偏低，但"永远 0 附近"更像前两条。

Q3：.@"239.5" 这种枚举名太怪了，我写 .@"239_5" 为什么编译不过？

上游把采样时间枚举定义成了带小数点的字符串字面量（SampleRate = enum(u3) { @"1.5" = 0, ..., @"239.5" = 7 }），Zig 里 @"" 引号内是字面成员名，239.5 就是 239.5——写别的任何变体都报 no field named。同理记住 AddressMode 的 .@"7bits"（第 14 篇）。这类"数字带点"的枚举在 regz/embassy 风格的 HAL 里会出现，遇到就 @"" 套引号照抄。

Q4：AdvancedADC 的方法名拼写为什么错得这么整齐？我"帮忙改对"会怎样？

aling、continuos、set_DMA、set_indedpended 是上游源码的逐字事实（adc.zig 的 450/500/621/874 行）。Zig 按符号名精确匹配，你写正确英语就是 no field or member function named 'set_data_alignment'——注意报错会显示你写的名字，看起来像"上游没有这个函数"，其实是"上游有但拼错了"。策略与 TimerGenealConfig 一致：照抄错误拼写，在项目里留一张拼写对照表（本篇的表格可以直接用），升级 microzig 版本时留意是否修正（修正了你的代码反而要跟着改）。

Q5：Vrefint 修正后的 VDDA 是 3.4 V，比标称还高，正常吗？

正常，两个来源：一是 1.20 V 只是典型值，单颗芯片的 Vrefint 实际值在典型值 ±1–2% 内浮动，反推出的 VDDA 带着同样的系统偏差；二是 USB 供电本来就允许 4.75–5.25 V 输入，经板载 LDO 输出 3.3 V ±2%。判断标准不是"是否等于 3.300"，而是稳定性——读数波动 <0.5% 且随负载无趋势性漂移，电源就是健康的。需要绝对精度就万用表量一次 VDDA，把偏差作为常数写进代码（或按上面说的单点标定 Vrefint 的真实电压）。

Q6：简单版 ADC + load_sequence 和 AdvancedADC + set_DMA(true) 各适合什么场景？

简单版扫描（本篇）：毫秒级轮询、几路慢信号（温度、电位器、电池电压），CPU 每次转换后取一次结果，实现与调试都简单。DMA 连续流（AdvancedADC）：千赫兹以上采样率或成块数据——set_DMA(true) 后每次 EOC 自动触发 DMA1_Channel1 搬运，配 circular_mode + 半传输事件（第 13 篇的乒乓结构）实现零 CPU 干预的连续采样。跨界点大约在"单次转换 + 主循环处理"的时间预算被打爆时：12 MHz ADC 时钟、239.5 档下每通道 21 µs，三通道循环就是 63 µs，主循环还有别的活干就该上 DMA 了。

面试考点

Q1：F103 ADC 的时钟上限是多少？如何从 72 MHz 系统时钟得到合规的 ADC 时钟？超限会怎样？

参考答案：上限 14 MHz（数据手册与 RM0008），来源是 PCLK2 经 ADCPRE 分频 2/4/6/8。72 MHz 配置下选 /6 = 12 MHz。超限（如 /2 = 36 MHz）的后果不是立刻损坏，而是内部逐次逼近逻辑时序违规：转换结果精度下降（丢码、非线性），通常表现为读数抖动增大。选 /6 而非 /8 是吞吐与上限余量的平衡：12 MHz 留 17% 余量，/8 的 9 MHz 则牺牲 25% 吞吐。另外注意 HAL 的 .ADCPresc 是 comptime 字段，枚举名以本地生成物为准。

Q2：采样时间与信号源阻抗的关系？给一个工程上的选型法则。

参考答案：ADC 内部采样电容（约 8 pF）在采样窗口内经源阻抗充电，必须充到 1/2^12 精度，需要约 8.3 个 RC 时间常数：T_samp ≥ 8.3 × R_src × C_sample。源阻抗 10 kΩ 约需 0.7 µs（9 个 12 MHz 时钟），100 kΩ 约需 7 µs。法则：阻抗未知或信号经大串阻/分压网络时先用最长档 239.5 周期保正确性，确认后按吞吐需求回退；高阻抗源在 ADC 前加运放跟随器或 RC 缓冲（1 kΩ + 100 nF），把有效源阻抗压到千欧级，既允许短采样又抗干扰。选错的症状是确定性偏低偏差，而非随机噪声。

Q3：内部温度传感器的换算公式与主要误差源？它适合什么用途？

参考答案：公式 T = (V25 − V_sense)/Avg_Slope + 25，典型值 V25 = 1.43 V、斜率 4.3 mV/°C；电压换算的分母应使用 Vrefint 反推的真实 VDDA 而非标称 3.3 V。误差源：① V25 与斜率是典型值，芯片间分散大（±1–2 °C 量级），无出厂校准；② 传感器测的是结温，与 PCB 环境温度差自发热 5–10 °C；③ 采样时间不足时读数偏低（源阻抗极高，要求 ≥2.2 µs）。适合过温保护、发热趋势监测、相对温度比较；不适合绝对温度测量，量产需单点标定。

Q4：Vrefint 通道如何用来修正电源波动？F103 与 F4 系列在这上面有什么差别？

参考答案：ADC 满量程就是 VDDA，读数 = V_in/VDDA × 4096，电源漂移直接乘在所有结果上。把 Vrefint（内部带隙基准，典型 1.20 V、对 VDDA 不敏感）纳入扫描序列，由其读数反推 VDDA = 1.20 × 4096 / 读数，再用真实 VDDA 做其余通道的换算——电源 ±5% 波动被整体抵消。差别：F4/F0/F3 系列在出厂系统存储区固化了每颗芯片的 Vrefint 校准值（如 F4 的 TS_CAL1/TS_CAL2、VREFINT_CAL 地址），可直接读出精确基准；F103 没有这个机制，只能用 1.20 V 典型值，消除的是电源波动（相对修正），基准自身偏差要靠外部标定。做跨系列移植时这是常见的"精度倒退"点。

Q5：滑动窗口均值与连续 N 次采样取平均有什么差别？窗口长度的取舍依据？

参考答案：连续 N 次平均每输出一个结果要等 N 个新样本，输出更新率 = 采样率/N；滑动窗口每来一个新样本就输出一次（旧样本出窗），更新率等于采样率，且延迟只有窗口长度的一半（等效时间常数 N/2 个周期）。取舍依据：目标信号的变化带宽 vs 噪声幅度——白噪声按 1/√N 抑制，窗口加倍噪声降 30% 但响应迟滞加倍。工程起点：窗口 ≥ 噪声主导周期的整数倍（抑制 50 Hz 工频则窗口覆盖 20 ms 整数倍），再按"可接受的最大响应延迟"反推窗口上限。本质上是设计一个简单 FIR 低通，其截止频率 ≈ 0.44 × 采样率/N。

Q6：简单版 ADC 与 AdvancedADC 应该怎么选？列出升级的触发条件。

参考答案：简单版（8 方法）：单次/扫描、软件触发、阻塞读，适合毫秒级轮询的慢信号，代码量小、心智负担低。AdvancedADC：注入组（定时器硬触发的确定时刻采样）、双 ADC 同步/交替（吞吐翻倍）、硬件校准（enable(true)）、DMA 连续流（set_DMA(true) + DMA1_Channel1）、模拟看门狗。触发升级的条件按优先级：① 采样率超出"主循环阻塞可承受"（约 10 kHz 以上）；② 需要确定采样时刻（控制环路）；③ 需要 ADC1+ADC2 同时采两路（同步测量）；④ 需要上电校准压噪声。升级的代价是拼写彩蛋四件套与更大的错误面（RegularConfigError 的 7 种错误）。通用原则：先跑通简单版验证模拟前端，再决定是否需要完整版的高级机制。

小结

ADC 三层闸：通道 MUX（引脚配 .analog）→ 时钟（PCLK2/6 = 12 MHz，上限 14 MHz）→ 采样时间（1.5–239.5 档，与源阻抗匹配）。
简单版四步：ADC.init(.ADC1) → enable()（忘了报 ADCNotEnabled，时钟没开是卡死）→ set_channel_sample_rate（枚举 .@"239.5" 引号照抄）→ load_sequence + read_multiple_channels。
CH16 温度：V25 = 1.43 V、斜率 4.3 mV/°C，典型值误差 ±1–2 °C，适合保护阈值不适合温度计。
CH17 Vrefint：VDDA = 1.20 × 4096 / 读数，修正电源波动；F103 无出厂校准值（F4 有），绝对精度靠外部标定。
AdvancedADC 拼写四件套照抄：aling、continuos、set_DMA、set_indedpended；enable(true) 带硬件校准。
滑动窗口均值：更新率 = 采样率、延迟 = 窗口/2；窗口覆盖 20 ms 整数倍可抑制工频。
DMA 连续采样走 DMA1_Channel1 + circular，与第 13 篇的通道分配表衔接。
下一篇第 17 篇：把参数存进芯片自己的 Flash——解锁、擦除、编程与"擦写期间 CPU 停顿"的代价。

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posted @ 2026-10-27 08:53 navysummer_hardware 阅读(19) 评论(0) 收藏举报

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ADC 采样：单次、扫描与内部温度传感器

ADC 采样：单次、扫描与内部温度传感器

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为什么需要理解 ADC 的三层结构

代码案例：电位器 + 内部温度 + Vrefint 修正

逐段解析

简单版 ADC 的三个方法：enable、采样率、读

CH16 与 CH17：两个没有引脚的通道

AdvancedADC 扫一眼：注入组、双 ADC 与拼写字典

滑动窗口滤波：8 行代码的真功夫

运行现象

常见问题

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