《Fundamentals of Power Electronics, 3rd Edition》第 11 章 - 第7课:CCM Flyback Transformer 工程例题 + 第11章总复习
第11章·第7课:CCM Flyback Transformer 工程例题 + 第11章总复习
对应《Fundamentals of Power Electronics, 3rd Edition》第 11 章:11.4.2 CCM Flyback Transformer 与 11.5 Summary of Key Points。
本课重点对应原书图 11.13~图 11.16,以及式(11.69)~式(11.90)。
目标:用一个 200 V → 20 V / 5 A、150 kHz 的 CCM Flyback 完整验证多绕组 \(K_g\) 设计方法,并在最后把第 11 章从“四大约束”到“磁芯损耗复核”的整个知识链统一起来。
1. 为什么把 Flyback 放在第 11 章最后?
因为它几乎把本章的所有知识都用到了:
- 多绕组;
- 磁化电感;
- 储能;
- 气隙;
- 峰值磁化电流;
- RMS 绕组电流;
- \(K_g\);
- 窗口面积分配;
- 导线线规;
- 磁芯饱和;
- 最后还要检查 Core Loss。
所以这道例题非常适合作为:
第 11 章综合题。
2. 再强调一次:Flyback “Transformer” 本质是什么?
名字叫:
Flyback Transformer —— 反激变压器
但从磁件工作机理看,它更准确地说是:
具有两个绕组的储能型 Coupled Inductor。
MOSFET 导通时:
输入电源
↓
原边
↓
磁化电流上升
↓
能量储存在 LM / 气隙
MOSFET 关断时:
磁化电流继续流动
↓
电压极性翻转
↓
次边二极管导通
↓
储存能量送到输出
因此:
Flyback 必须按“储能磁件”的思路设计,而不是普通能量传递型 Transformer。
3. 原书图 11.13:CCM Flyback 设计例题

教学重绘图,对应原书图 11.13:Flyback 电路、磁化电感模型以及典型 \(i_M\)、\(i_1\)、\(i_2\) 波形。
原书规格:
输入:
输出:
因此负载:
4. 其他设计条件
开关频率:
开关周期:
所以:
占空比:
匝比:
5. 允许铜损、填充率与最大磁通密度
原书规定总 DC 铜损:
这里:
不包括 Proximity Effect 引起的附加铜损。
为了给原次边绝缘留空间:
最大磁通密度:
并要求:
6. 为什么 \(K_u\) 比前面的电感例题更小?
前面的简单电感可能使用:
这里降到:
原因是 Flyback 原边和次边之间需要:
- Galvanic Isolation —— 电气隔离;
- 漆包绝缘;
- 层间绝缘;
- 安规距离。
这些结构都会占用窗口。
所以:
隔离型磁件的窗口不是全部拿来塞铜的。
7. 第一步:求 DC 磁化电流 \(I_M\)
CCM Flyback 的输出电流只在 MOSFET 关断、次边二极管导通的区间传递。
原书由电容电荷平衡得到:
代入:
得到:
式(11.69)
8. 为什么公式中出现 \(1-D\)?
Flyback 的次边只在:
期间导通。
次边电流约为磁化电流乘匝比折算:
因此平均输出电流近似为:
反过来:
而:
所以就得到式(11.69)。
9. 第二步:规定 20% 磁化电流纹波
原书要求:
因此:
得到:
式(11.70)
这里和前面一样:
表示从平均值到峰值的纹波幅值。
10. 峰值磁化电流
所以:
得到:
式(11.71)
这个参数直接进入:
饱和 / \(B_{max}\) / 气隙 / 匝数设计。
11. 第三步:反算磁化电感 \(L_M\)
原边在 MOSFET 导通期间承受:
电感电流从:
上升到:
总变化量:
所以:
因此:
式(11.72)
12. 代入数值
得到:
这是一个很关键的结果:
这个 100 W Flyback 的磁件,本质上要实现一个 1.07 mH 的储能磁化电感。
13. 一张图看前面的电流计算

教学辅助图:\(I_M\)、\(\Delta i_M\)、\(I_{M,max}\)、\(L_M\) 以及原次边 RMS 电流的计算关系。
14. 第四步:为什么要计算 RMS 绕组电流?
因为:
所以即使已经知道:
仍然不能用它直接设计铜线。
必须分别求:
- Primary RMS Current:
- Secondary RMS Current:
15. 原边电流波形
MOSFET 导通期间:
MOSFET 关断期间:
所以原边是一个:
占空比为 \(D\) 的梯形 / 三角纹波脉冲电流。
16. 原书式(11.73):原边 RMS 电流
利用附录 A 的梯形波 RMS 公式:
式(11.73)
代入:
得到:
17. 次边 RMS 电流
次边只在 MOSFET OFF 区间导通。
次边电流是磁化电流按匝比折算:
因此 RMS:
式(11.74)
计算得到:
18. 为什么 \(I_2\) 不是匝比直接乘 \(I_1\)?
原书特别提醒:
\(I_2\) 并不简单等于匝比乘以 \(I_1\)。
原因是:
- 原边在 \(DT_s\) 导通;
- 次边在 \((1-D)T_s\) 导通。
两边 RMS 的时间占空比不同。
所以:
除非某些特殊占空比条件恰好成立。
19. 第五步:总折算 RMS 电流
第 5 课定义:
所以:
得到:
式(11.75)
20. 再次区分三个电流
本例有:
它们各自负责不同问题:
| 参数 | 用途 |
|---|---|
| \(I_M\) | 磁化电流 DC 工作点 |
| \(I_{M,max}\) | 峰值磁通、饱和、匝数和气隙 |
| \(I_{tot}\) | 多绕组窗口与总铜负担 |
绝对不能混用。
21. 第六步:计算所需 \(K_g\)
使用:
原书采用:
代入全部数据,得到:
式(11.76)
22. 第七步:选择 EE30 磁芯
原书在 Appendix B 中选择满足要求的最小 EE 磁芯:
EE30
它的:
明显满足:
23. EE30 的几何参数

原书给出:
平均磁路长度:
式(11.77)
24. 第八步:计算气隙
使用式(11.53):
代入:
得到:
式(11.78)
25. 第九步:计算原边匝数
使用:
得到:
式(11.79)
必须整数化:
式(11.80)
26. 第十步:计算次边匝数
目标匝比:
所以:
得到:
原书计算显示约:
最后取整:
式(11.81)、式(11.82)
因此实际匝比:
非常接近:
27. 第十一步:窗口面积分配
原边:
所以:
得到:
次边:
得到:
式(11.83)
28. 教学图:Flyback 的窗口怎样分?

最终大致:
Primary 45%
Secondary 55%
这很有意思。
虽然原边有:
匝,
次边只有:
匝,
但是次边 RMS 电流高达:
所以它反而分到更多窗口面积。
29. 第十二步:选择原边导线
原书由式(11.57)得到:
于是选择:
30. 次边导线
得到:
于是选择:
式(11.84)
31. 至此 First-Pass 设计完成
已经得到:
| 参数 | 结果 |
|---|---|
| Core | EE30 ferrite |
| \(K_g\) | 0.0857 cm⁵ |
| \(L_M\) | 1.07 mH |
| Gap | 0.44 mm |
| Primary | 59 turns, AWG #28 |
| Secondary | 9 turns, AWG #19 |
| \(P_{cu}\) target | 1.5 W |
| \(B_{max}\) design value | 0.25 T |
但原书没有到此停止。
它继续问:
我们忽略的 Core Loss 到底有多大?
32. 为什么必须再检查磁芯损耗?
第 11 章的 \(K_g\) Method:
没有把 Core Loss 直接放进尺寸优化公式。
所以设计出来以后应该检查:
如果发现:
那说明:
仅用 \(K_g\) Method 已经不够。
这也是第 12 章存在的原因。
33. 原书图 11.14:CCM Flyback 的 B-H 回线

教学重绘图,对应原书图 11.14。
磁通密度可以分为:
其中:
- \(B_{DC}\):由 DC 磁化电流 \(I_M\) 决定;
- \(\widetilde B\):由磁化电流纹波决定。
34. 饱和由哪个量决定?
最大磁通:
由:
DC Bias + AC Ripple
共同决定。
只要:
磁芯就会饱和。
所以饱和检查要看:
35. 磁芯损耗又由哪个量决定?
磁芯损耗主要与:
B-H minor loop 的交流摆幅
有关。
所以原书强调:
才是决定 Core Loss 的关键交流磁通密度。
这非常重要:
Bmax → 饱和
ΔB → Core Loss
不要把两者混为一谈。
36. 法拉第定律求 \(\Delta B\)
原书从:
得到:
式(11.85)
MOSFET 导通时:
因此:
式(11.86)
37. 原书图 11.15:B(t) 如何变化?

教学重绘图,对应原书图 11.15:在 \(DT_s\) 时间里,\(B\) 从低点爬升到高点。
在导通区间:
磁通密度总变化量是:
因此:
38. 得到 \(\Delta B\)
所以:
式(11.87)
当:
使用:
时:
式(11.88)
39. 代入 Flyback 参数
得到:
式(11.89)
40. 这个数值为什么非常关键?
设计最大磁通:
但是交流摆幅只有:
说明 CCM Flyback 的工作状态是:
较大的 DC Bias + 较小的 AC minor loop。
这正是第 10 章已经讨论过的 CCM Flyback 特性。
所以:
饱和可能是重要约束,但磁芯损耗未必很大。
41. 原书图 11.16:从材料曲线读取损耗密度

教学重绘图,对应原书图 11.16。
在:
以及:
时,
原书由典型磁芯损耗曲线读取:
42. 总磁芯体积
近似:
所以:
约:
43. 总磁芯损耗
所以:
得到:
式(11.90)
44. 为什么这个结果很重要?
原书规定允许铜损:
而估算磁芯损耗:
所以:
这说明对于这个:
- CCM;
- Ferrite;
- 小 \(\Delta B\);
的 Flyback 设计,
第一轮忽略 Core Loss 是比较合理的。
45. 但原书也提醒:这个 Core Loss 估计并不完美
原书指出:
这里读取的磁芯损耗密度没有考虑谐波对磁芯损耗的影响。
真实 Flyback 波形:
- 不是完美正弦;
- B(t) 不是标准正弦;
- 可能含有更复杂频谱。
所以:
仍然属于:
First-Pass Core-Loss Estimate。
46. 一张图复盘完整 Flyback 设计

完整过程:
200 V → 20 V / 5 A
↓
IM = 1.25 A
↓
ΔiM = 0.25 A
↓
IM,max = 1.5 A
↓
LM = 1.07 mH
↓
I1 = 0.796 A
I2 = 6.50 A
↓
Itot = 1.77 A
↓
Kg ≥ 0.049 cm^5
↓
EE30
↓
gap = 0.44 mm
↓
59 : 9 turns
↓
α1 = 0.45
α2 = 0.55
↓
AWG #28 / #19
↓
ΔB = 0.041 T
↓
Pfe = 0.25 W
47. Flyback 和上一课 Forward Coupled Inductor 有什么相同点?
两者都可以使用:
Coupled Inductor \(K_g\) Method。
都要计算:
然后:
- 选磁芯;
- 算气隙;
- 算匝数;
- 分配窗口;
- 选线径。
48. 它们最大的不同是什么?
Two-Output Forward 的耦合电感:
是输出侧的滤波 / 储能磁件。
Flyback:
磁化电感本身就是主功率能量传递路径中的储能元件。
所以 Flyback 的磁件:
更直接参与每一个开关周期的能量存储和释放。
49. 为什么 Flyback 原次边不能简单按普通 Transformer 理解?
普通 Transformer:
原次边可以在同一时刻通过共同磁通传递能量。
Flyback:
Q ON
主要:
Q OFF
主要:
原次边电流是:
分时出现。
这也是第 10 章说 Flyback 交错绕组降低 Proximity Loss 的能力有限的原因之一。
50. 第 11 章到这里到底解决了什么?
第 11 章的主线不是:
“背一个 \(K_g\) 公式。”
而是建立了一套完整磁件设计思维:
电气规格
↓
磁学规格
↓
铜损规格
↓
几何约束
↓
标准磁芯
↓
气隙 / 匝数 / 线径
↓
复核
51. 第11章总复习:第一阶段——四大约束
单绕组 Filter Inductor:
最大磁通
电感量
窗口
电阻
52. 第二阶段——构造 \(K_g\)
消元得到:
它把:
- 磁芯截面积;
- 窗口面积;
- 铜线长度;
压缩成一个:
磁芯有效电气尺寸指标。
53. 第三阶段——单绕组 First-Pass
Kg
↓
选磁芯
↓
n
↓
lg / AL
↓
Aw
↓
标准线径
↓
复核 R
54. 第四阶段——多绕组窗口优化
最优窗口分配:
由于:
也可以写成:
也就是:
按视在功率分配窗口。
55. 第五阶段——Coupled Inductor
引入两个完全不同的指标:
磁化峰值
控制:
饱和和 \(B_{max}\)。
总折算 RMS 电流
控制:
铜窗口和铜损。
56. 多绕组 \(K_g\)
最终:
这是整个第 11 章最通用的储能多绕组磁件 First-Pass 公式。
57. 第六阶段——工程离散化
理论可能得到:
实际必须:
理论铜面积可能:
实际必须:
选标准 AWG。
磁芯也必须:
选标准 EE / PQ / Pot Core。
所以真实磁件设计必然包括:
连续计算 → 标准器件离散化 → 再复核。
58. 第七阶段——损耗复核
第 11 章虽然主要按:
Copper-Loss-Dominant
方法设计,
但最后仍应检查:
尤其是:
- 频率高;
- \(\Delta B\) 大;
- DCM;
- AC Inductor;
这些情况。
59. 原书 11.5 Summary of Key Points
原书第 11.5 节可以归纳为两个核心结论。
原书要点 1
开关变换器中存在多种磁件。
它们的区别包括:
- 磁通密度变化幅度;
- AC 绕组电流幅度。
当:
很小时,
Core Loss 可以很小,甚至在第一轮设计中忽略。
此时也可以考虑使用:
饱和磁通密度更高的低频磁性材料。
原书要点 2
是:
在铜损占主导的应用中,用于衡量磁芯磁学尺寸的指标。
\(K_g\) Method 中需要预先指定:
- Flux Density;
- Total Copper Loss。
本章分别建立了:
- Single-Winding Filter Inductor;
- Multiple-Winding Magnetic Device;
的设计流程。
60. 教学重组:第11章真正的知识地图

教学辅助图:第 11 章从四大约束一路发展到 Flyback 核心损耗复核。
61. 第 10 章和第 11 章的关系
第 10 章:
为什么?
解释:
- 磁路;
- 气隙;
- B-H;
- 损耗;
- Skin / Proximity。
第 11 章:
怎么算?
解决:
- 磁芯多大;
- 多少匝;
- 气隙多大;
- 线多粗;
- 多绕组怎么分窗口。
62. 第 11 章和第 12 章的分界线
第 11 章假设:
先指定 \(B_{max}\) 和允许铜损,再设计磁芯。
这种方法适合:
铜损 / 饱和占主要约束的磁件。
但是当:
成为主要限制,
比如:
Conventional High-Frequency Transformer
就不能只把:
简单预先指定。
需要进一步优化:
使:
整体最小。
这就是第 12 章。
63. 本课最终设计结果表
| 参数 | CCM Flyback 结果 |
|---|---|
| Input | 200 V |
| Output | 20 V / 5 A |
| \(f_s\) | 150 kHz |
| \(D\) | 0.4 |
| \(n_2/n_1\) | 0.15 |
| \(I_M\) | 1.25 A |
| \(\Delta i_M\) | 0.25 A |
| \(I_{M,max}\) | 1.5 A |
| \(L_M\) | 1.07 mH |
| \(I_1\) RMS | 0.796 A |
| \(I_2\) RMS | 6.50 A |
| \(I_{tot}\) | 1.77 A |
| Required \(K_g\) | 0.049 cm⁵ |
| Core | EE30 |
| \(A_c\) | 1.09 cm² |
| \(W_A\) | 0.476 cm² |
| MLT | 6.6 cm |
| Gap | 0.44 mm |
| Turns | 59 : 9 |
| Window | 45% : 55% |
| Wire | AWG #28 : AWG #19 |
| \(\Delta B\) | 0.041 T |
| Core-loss density | 0.04 W/cm³ |
| \(P_{fe}\) | 0.25 W |
| Design \(P_{cu}\) | 1.5 W |
本例 CCM Flyback Transformer(连续导通模式反激磁件) 的主要输入条件、磁件设计参数以及最终 First-Pass Design 结果详细解释。
| 参数 | 中文名称 / 含义 | CCM Flyback 结果 | 工程作用 |
|---|---|---|---|
| Input | 输入直流电压 | 200 V | Flyback 原边输入母线电压 |
| Output | 输出电压 / 输出电流 | 20 V / 5 A | 输出功率约为 100 W |
| \(f_s\) | 开关频率 | 150 kHz | 决定每个开关周期长度以及磁通变化速度 |
| \(D\) | 开关占空比 | 0.4 | MOSFET 一个周期内的导通时间比例 |
| \(n_2/n_1\) | 次级与初级匝数比 | 0.15 | 决定原次边电压、电流的折算关系 |
| \(I_M\) | 磁化电流平均值 / DC 分量 | 1.25 A | 表示 CCM 状态下磁化电流的直流工作点 |
| \(\Delta i_M\) | 磁化电流纹波幅值 | 0.25 A | 为 \(I_M\) 的 20%,用于反推磁化电感 |
| \(I_{M,max}\) | 峰值磁化电流 | 1.5 A | 用于计算最大磁通密度、匝数和气隙,并检查饱和 |
| \(L_M\) | 磁化电感 | 1.07 mH | Flyback 的主要储能电感,是本磁件最核心的功能参数之一 |
| \(I_1\) RMS | 初级绕组 RMS 电流 | 0.796 A | 用于计算初级铜损和导线截面积 |
| \(I_2\) RMS | 次级绕组 RMS 电流 | 6.50 A | 用于计算次级铜损和导线截面积 |
| \(I_{tot}\) | 总折算 RMS 电流 | 1.77 A | 各绕组 RMS 电流折算到初级后的总铜负担指标 |
| Required \(K_g\) | 所需磁芯几何常数 | 0.049 cm⁵ | 用于 First-Pass 阶段判断磁芯尺寸是否足够 |
| Core | 磁芯型号 | EE30 | 本例最终选择的铁氧体 EE 型磁芯 |
| \(A_c\) | 磁芯有效截面积 | 1.09 cm² | 决定磁芯承受磁通的能力,直接影响匝数和磁通密度 |
| \(W_A\) | 磁芯窗口面积 | 0.476 cm² | 决定绕组能够容纳多少铜线和绝缘材料 |
| MLT | 平均每匝线长 | 6.6 cm | Mean Length Per Turn,用于估算绕组总长度和铜阻 |
| Gap | 磁芯气隙长度 | 0.44 mm | 提高储能能力并防止较大的 DC 磁化电流导致磁芯饱和 |
| Turns | 初级 : 次级实际匝数 | 59 : 9 | 理论计算取整后的实际绕组匝数 |
| Window | 初级 : 次级窗口分配比例 | 45% : 55% | 按各绕组 RMS 安匝优化窗口,使低频总铜损较小 |
| Wire | 初级 : 次级导线规格 | AWG #28 : AWG #19 | 根据窗口面积和铜损约束得到的标准线规 |
| \(\Delta B\) | 交流磁通密度摆幅 | 0.041 T | 主要用于估算磁芯的高频损耗 |
| Core-loss density | 磁芯单位体积损耗密度 | 0.04 W/cm³ | 在 150 kHz、\(\Delta B=0.041T\) 条件下估算的单位体积磁芯损耗 |
| \(P_{fe}\) | 磁芯损耗 / 铁损 | 0.25 W | 由磁芯损耗密度乘磁芯体积得到 |
| Design \(P_{cu}\) | 设计允许总铜损 | 1.5 W | \(K_g\) First-Pass 设计中预先规定的绕组铜损上限 |
64. 本课公式总表
DC 磁化电流
式(11.69)
磁化电流纹波
式(11.70)
峰值磁化电流
式(11.71)
磁化电感
式(11.72)
原边 RMS
式(11.73)
次边 RMS
式(11.74)
总折算 RMS
式(11.75)
所需 \(K_g\)
式(11.76)
EE30
式(11.77)
气隙
式(11.78)
原边匝数
式(11.79)、式(11.80)
次边匝数
式(11.81)、式(11.82)
窗口比例
式(11.83)
导线
式(11.84)
法拉第关系
式(11.85)
式(11.88)
AC 磁通摆幅
式(11.89)
磁芯损耗
式(11.90)
65. 英文核心术语
| 英文 | 中文 |
|---|---|
| CCM Flyback Transformer | CCM 反激变压器 / 反激磁件 |
| Continuous Conduction Mode | 连续导通模式 |
| Magnetizing Inductance | 磁化电感 |
| Magnetizing Current | 磁化电流 |
| Peak Magnetizing Current | 峰值磁化电流 |
| RMS Winding Current | 绕组 RMS 电流 |
| Total Referred RMS Current | 总折算 RMS 电流 |
| Core Geometrical Constant | 磁芯几何常数 |
| Fill Factor | 窗口填充率 |
| Galvanic Isolation | 电气隔离 |
| Air Gap | 气隙 |
| AC Flux Density | 交流磁通密度 |
| Core-Loss Density | 磁芯损耗密度 |
| Minor Loop | 小 B-H 回线 |
| Saturation Flux Density | 饱和磁通密度 |
| Proximity Effect | 邻近效应 |
| First-Pass Design | 第一轮设计 |
66. 最容易混淆的 8 个问题
1. Flyback 是普通 Transformer 吗?
不是。
磁化电感承担显著储能,所以磁学本质更接近 Coupled Inductor。
2. 为什么必须开气隙?
因为:
需要储存明显能量。
3. \(B_{max}\) 和 \(\Delta B\) 有什么区别?
主要检查饱和。
主要影响磁芯损耗。
4. \(I_{M,max}\) 和 \(I_{tot}\) 有什么区别?
一个控制峰值磁化,一个控制铜负担。
5. 为什么次边只有 9 匝却用更粗的 #19?
因为次边 RMS 电流达到 6.50 A。
6. 为什么原次边窗口接近 45/55?
因为最优窗口分配依据:
而不是单独依据匝数。
7. 为什么 First-Pass 后还算 \(P_{fe}\)?
因为 \(K_g\) Method 没有直接优化磁芯损耗。
8. 为什么下一章还需要新的方法?
因为对于 Core-Loss-Limited 磁件,必须同时优化磁芯损耗和铜损。
67. 基础练习题
题 1
重新计算本例负载电阻:
并代入式(11.69)验证:
题 2
若磁化电流纹波从 20% 降到 10%,其他条件不变:
会变为多少倍?
题 3
若:
但 \(I_M\) 与纹波比例不变,原边 RMS 电流的占空比项将怎样变化?
题 4
为什么:
?
题 5
若:
增大,而频率和磁芯材料不变,通常 Core Loss 会怎样变化?
68. 工程思考题
假设样机实测:
- DCR 铜损约 1.4 W;
- 磁芯损耗约 2.0 W。
虽然:
设计完全满足要求,
这个设计是否仍然合理?
答案:
不能仅凭 \(K_g\) 判断合理。
因为此时:
说明磁芯损耗已经成为主导约束。
应该进入:
Core-Loss-Limited Design
重新选择:
- \(\Delta B\);
- 磁芯尺寸;
- 匝数;
- 工作频率;
- 磁芯材料。
这正是第 12 章要解决的问题。
69. 第11章最终总结
第 11 章可以浓缩成一句话:
在给定最大磁通密度和允许铜损的条件下,利用 \(K_g\) 把磁芯截面积、窗口面积与绕组长度统一起来,完成功率电感和多绕组储能磁件的 First-Pass 设计。
最终工程流程:
变换器工作条件
↓
L / LM
峰值电流
RMS 电流
↓
Bmax
Pcu
Ku
↓
Kg_required
↓
标准磁芯
↓
气隙
↓
整数匝数
↓
窗口面积分配
↓
标准导线
↓
铜损 / 饱和 / Core Loss 复核
↓
样机测量与迭代
到这里,第 11 章已经完整闭环。
下一步进入第 12 章以后,设计思想会发生一个关键升级:
第 11 章是 指定 \(B_{max}\) 后设计磁件;
而第 12 章要开始研究:
到底应该选择多大的 \(\Delta B\),才能让 Core Loss + Copper Loss 的总损耗最小。
这就是从:
Inductor Design
正式进入:
Transformer Design / Core-Loss-Limited Magnetics Design。
浙公网安备 33010602011771号