随笔分类 - ATE测试开发
摘要:SoC随着工艺进步设计复杂度增加,embeded sram也越来越多。在40nm SoC产品Sram一般在20Mbits左右,当工艺发展到28nm时Sram就增加到100Mbits。如果考虑AI产品,Sram估计更多。如何更好的测试Sram就成为量产测试的重中之重。 Sram的结构 一个6T sra
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摘要:相信很多工程师,特别是刚入行或准备入行的兄弟们或多或少听过测试相关的东西。如果你想做DFT工程师的,测试工程师的,而对于设计/验证工程师们如果能了解下STIL文件的原理,在和DFT/测试工程师聊技术聊测试pattern的时候就不会一脸懵逼了。 言归正传。STIL就是StandardTestInter
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posted @ 2020-11-25 17:53
阳光总能让人感到温暖
摘要:这几日看到坛里有几个关于SWD协议相关的文章,自己也尝试了下,有点体会,也有些疑惑,写出来与大家分享和交流下。 以下我的模拟SWD接口的板子简称为Host,目标MCU(即我要连接的板子)简称为Target。SWD协议 故名思议,串行总线调试接口。我们需要3根线与目标MCU相连,SWDIO,SWDCL
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