随笔分类 - 学习笔记
数字IC
摘要:在可测性设计(DFT)技术中,scan可以说是最重要的一部分。由于对时序电路直接进行测试十分困难,而扫描测试方法通常能很好地解决这一问题。 Scan 技术最初由Kobayashi等人提出来的,它的优点是基本原理是时序电路可以模型化为一个组合电路网络。 Scan design的设计目标是能够提高可控性
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摘要:高速缓冲器cache的原理cpu的速度远远快于内存,因此如果cpu只是从内存中读取数据,那么会花费较多的时间在等待数据上,我们希望有一种方法解决【从内存中读数据慢】的问题,于是有了高速缓存。 对于数据的读取基于两个猜想,假设我们读取内存地址x处的数据,那么有 内存地址x处的数据在短时间内容易被再次访
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摘要:一、前言 二、集成电路产业链 三、常见的SoC芯片架构图 四、数字IC设计流程 五、数字IC设计具体指标 六、基于标准单元(STD CELL)的ASIC设计流程 七、Digital IC Design Flow(总结版) 八、数字IC设计全流程总览图 九、前端设计深入(RTL -> Netlist)
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摘要:Reset深入理解 版权声明: 本文作者: 烓围玮未 微信公众号:芯片设计进阶之路 首发于知乎专栏《芯片设计进阶之路》,转发无需授权,请保留这段声明。 首先上思维导图: 如果要问“芯片中怎么复位才对?” 很多人都会回答“异步复位同步释放”。 但是为什么要用异步复位同步释放,是不是所有的芯片都必须采用
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摘要:数据突发长度(burst length)在讲解如何去计算FIFO深度之前,我们来理解一个术语burst length。要理解数据的突发长度,首先我们来考虑一种场景,假如模块A不间断的往FIFO中写数据,模块B同样不间断的从FIFO中读数据,不同的是模块A写数据的时钟频率要大于模块B读数据的时钟频率,
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摘要:FIFO可根据读写时钟是否为同一时钟域可分为同步FIFO和异步FIFO,本文主要介绍同步FIFO,异步FIFO将在下篇介绍 1 什么是FIFO FIFO全称 First In First Out,即先进先出。 FIFO主要用于以下几个方面: 跨时钟域数据传输 将数据发送到芯片外之前进行缓冲,如发送到
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摘要:1 异步FIFO结构 文章转自: https://baijiahao.baidu.com/s?id=1724030588865450475 感谢老铁! 在上篇文章中我们给出了FIFO的基本接口图 并且指出,该图适用于所有的FIFO,这次我们先看看异步FIFO内部的大体框图 异步FIFO主要由五部分组
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摘要:APB协议的简单实现及其仿真,实现简单的读写操作。 1、slave模块: 2、tb/master模块: 3、仿真波形 有问题可以联系我,欢迎指正。
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