ZCU111内建自检（BIST, Built In Self Test）

内建自检（Built In Self Test）

ZCU111开发板在出厂时在Flash里已经预烧录了自检程序，所以直接参考XTP490-zcu111-quickstart.pdf（同产品附带纸质文档）进行自检即可。

自检失败

自检失败一般是因为Flash自检程序被覆盖，需要重新烧录，参考xtp515-zcu111-restoring-flash-c-2018-3.pdf文档重新烧录，其中烧录文件为官网上文档对应design files。