安捷伦频谱仪测试

电平测量操作步骤
1. 打开频谱仪;
2. 点击按键矩阵左侧的模式选择“Mode”键，液晶屏右侧出现一列模式选项;
3.点击液晶屏右侧与“SpectrumAnalyzer”对应按键，进入频谱测量模式:
4.点击按键矩阵中左下角的“Meas”按键(即测量项选择键)，液晶屏的右侧出现一
列测试选项;
5.点击“ChannelPower”对应的右侧按键，即进入电平测量界面:
6.点击按键矩阵上的“MeasSetup”键，液晶屏右侧出现一列电平检测设置项:
7.点击“IntegBW”对应的右侧按键(即代表测量带宽)，在数字键盘上输入所测频
点的带宽，此时液晶屏上出现一列单位，点击所需单位对应的右侧按键(例如所测频点的带宽为8MHz在数字键盘上点击8再点击液晶屏上MHz对应的右侧按键):
8.点击按键矩阵的“FREQChannel”键，液晶屏右侧出现一列频率设置选项:
9.点击“CenterFREQ”，在数字键盘中键入所测频点的中心频率，此时液晶屏上出现
一列单位，点击所需单位对应的右侧按键;
10.液晶屏左下角显示所测频点的电平，显示格式为“*dBm/8MHz”。代表8MHz内的
功率;
11.若功率值没有达到预期，可以尝试点击按键矩阵上“ AMPTD”键，再点击
“Attenuation”，最后按校准按钮即可校准电平测量值。

 

寄生输出抑制比(带外抑制)测量操作步骤
1. 打开频谱仪;
2.点击按键矩阵左侧的模式选择“Mode”键，液晶屏右侧出现一列模式选项:
3.点击液晶屏右侧与“SpectrumAnalyzer”对应按键，进入频谱测量模式;
4.点击按键矩阵中左下角的“Meas”按键(即测量项选择键)，液晶屏的右侧出现一
列测试选项;
5.点击“SweptSA”对应的右侧按键，即进入频谱测量界面;
6.点击“FREQChannel”键，液晶屏右侧出现一列频率设置选项;
7.点击“StartFREQ”右侧对应的按键，并通过数字键盘输入45，此时液晶屏右侧出
现一列单位，从上到下依次为“GHz”，“MHz”和“Hz”，点击“MHz”对应的右侧按键;
8.点击“StartFREQ”右侧对应的按键，并通过数字键盘输入1，此时液晶屏右侧出
现一列单位，从上到下依次为“GHz”,“MHz”和“Hz”，点击“GHz”对应的右侧按键。通过7~8步的操作，频谱测量的范围设置为45MHZ~1GHz;
9.点击按键矩阵上的“Trace/Detector”按键，液晶屏右侧出现一列选项10.点击“Trace Average”对应的右侧按键，使频谱显示为平均模式;11.点击按键矩阵上“BW”按键，液晶屏右测出现一列选项;
12.点击“ResBW”对应的右侧按键，使得液晶屏上“ResBW”的“Man”被选中;13.然后通过数字按键输入100，此时液晶屏右侧出现一列单位，点击“KHz”对应的
右侧按键:(通过9~13步的设置，使得带外的测量更加准确)14.点击按键矩阵上“Marker”键;
15.点击按键矩阵上“PeakSearch”键，液晶屏上marker点显示在频谱的最高点上，并
且液晶屏右侧出现一列选项:
16.点击“MarkerDelta”右侧按键，此时左右旋转按键矩阵中的旋转按钮，使得Marker

点在45MHz~1GHz内移动,使得Marker点位于除去调制频点所在频率外的最高点，此时液晶屏右上侧显示出此点电平与频点最高点电平的差值，此值即为带外的值;

 

五.载噪比(ACPR)测量操作步骤

1. 打开频谱仪;
2.
点击按键矩阵左侧的模式选择“Mode”键，液晶屏右侧出现一列模式选项:
3.点击液晶屏右侧与“SpectrumAnalyzer”对应按键，进入频谱测量模式:
4. 点击按键矩阵中左下角的“Meas”按键(即测量项选择键)，液晶屏的右侧出现一
列测试选项;
5.点击“ACP”对应的右侧按键，进入ACPR测量界面;
6. 点击“Meas Setup”按键，液晶屏右侧显示出一列测试设置选项:
点击“CarrierSetup”对应的右侧按键，液晶屏右侧出现一列载波设置选项:
1.
8. 点击“carriers”对应的右侧按键，通过数字按键输入频点个数，例如对于6临频输
出设备，通过数字按键输入6，液晶屏上显示“Enter”，点击“Enter”对应的右侧按键:(注:如设备为4临频输出，此处输入4，若为6临频输入6，6临频以上此处输入4或者6皆可)
9
点击“ConfigureCarriers”对应的右侧按键，液晶屏右侧出现一列选项，点击“Carriel Spacing”对应的右侧按键，通过数字按键输入8，在液晶屏右侧出现一列单位，点击“MHz”对应的右侧按键，点击“Measurement NoiseBandwith”对应的右侧按键，通过数字按键输入8，在液晶屏右侧出现一列单位，点击“MHz”对应的右侧按键;10.点击“MeasSetup”按键，液晶屏右侧显示出一列测试设置选项:
11.点击“Offset/Limits”对应的右侧按键，液晶屏右侧出现一列载波设置选项:

12.点击“OffFreq”对应的右侧按键，通过数字按键输入8，此时液晶屏右侧出现一列
单位，点击“MHz”对应的右侧按键;
13.点击“IntegBandwith”对应的右侧按键，通过数字按键输入8，此时液晶屏右侧出
现一列单位，点击“MHz”对应的右侧按键:
14.点击按键矩阵中的“BW”键，液晶屏右侧出现一列选项;
15.点击“ResBW”,通过数字按键输入100,此时液晶屏右侧出现一列单位，点击“KHz”
对应的右侧按键;
16.点击“RBWControl”对应的右侧按键，此时液晶屏右侧出现滤波器类型选项，点
击“FilterType”右侧的按键出现“Gaussian”和“Flattop”两个选项，点击“Flattop”对应的右侧按键;
17.点击“MeasSetup”按键，液晶屏右侧显示出一列设置选项;18.点击“Noise Figure”对应的右侧按键，打开噪声校正:
19.点击“FREQ”键，键盘右侧出现一列频率设置选项，点击“CenterFreq”通过数字

按键输入所测6个频点的中心频率。(注:与步骤8对应，若所测频点为4临频输出，此处频率=第一个频点中心频率+12MHz;若所测频点为6临频输出，此处频率=第一个频点中心频率+20MHz;)
20.点击“AMPTD”对应的右侧按键，液晶屏右侧出现一列选项;
21.点击“Attenuation”对应的右侧按键，左右旋转按键矩阵中的旋钮键，使得频谱两
边的值载噪比最大，此值即为设备的载噪比

六.相位噪声测量操作步骤

1. 打开频谱仪;
2.点击按键矩阵左侧的模式选择“Mode”键，液晶屏右侧出现一列模式选项:
3. 点击液晶屏右侧与“Phase Noise”对应按键，进入相位噪声测量模式;
4.点击按键矩阵中左下角的“Meas”按键(即测量项选择键)，液晶屏的右侧出现一
列测试选项;
5.点击“LogPlot”对应的右侧按键;
6. 点击“Meas Setup”按键液晶屏右侧出现一列选项;
7.点击与“More”对应的右侧按键，在液晶屏右侧出现“DecadeTable”选项，点击
右侧按键选中“DecadeTable”下测的“On”:
8.点击“FREQ”按键液晶屏右侧出现一列选项:
9.点击“AutoTune”，下侧即显示所测频点的相位噪声

 

七：环境底噪扫描

首先选择频点及扫描带宽，然后将内置衰减器打到最低，并且将前置放大器开启，可降低频谱仪本地噪声。然后选择平均迹线模式，并且将VBW降低。这样正常的底噪就会到-100以下，在不接天线的前提下。国产的会差，可能底噪还有-90。如果想更低，可以调整RBW，也可以降低本地噪声，但是会降低扫描时间。扫描的就很慢了。