摘要：一、基础术语 1.DUT 需要被实施测试的半导体器件通常叫做DUT（Device Under Test,一般就是被称为‘被测器件’） 器件引脚的常识 （1）数字电路中的引脚分为“信号”、“电源”和“地”三部分， （2）电源脚 2.测试程序 目的：半导体测试程序的目的是控制测试系统硬件一一定的方式保证 阅读全文