实验一
1.1
3 输入多数表决器。
整体方案设计
数据
- 输入信号\(XYZ\):三个表决数据
- 输出信号\(F\):输出项,表示多数表决数据
输入输出引脚
需要 3 个输入引脚和 1 个输出引脚
模块
三个与门和一个或门,具体见下
原理图和电路图
原理图
电路图
仿真测试
代表性输入输出
- \(X=1 \ Y=0 \ Z=0\)
- \(X=1 \ Y=1 \ Z=0\)
可以看到都没问题
错误现象及分析
- 没遇到错误
1.2
利用 CMOS 晶体管构建两输入或门。
整体方案设计
数据
- \(XY\):两个输入
- \(F\):或结果输出
输入输出引脚
两个输入引脚、1 个输出引脚
模块
3 对 CMOS 晶体管
原理图和电路图
- 原理图
- 电路图
仿真测试
代表性输入输出
- \(X=0 \ Y=0\)
- \(X=1 \ Y=0\)
错误现象及分析
- 没有遇到错误
1.3
利用基本逻辑门和 CMOS 晶体管实现多路选择器。
整体方案设计
数据
- \(D0,D1\):两个输入端
- \(S\):控制端,用于从D1,D2中选择作为结果
输入输出引脚
3 个输入端和 1 个输出端
部件
两个 2 输入与门、1 个 2 输入或门、1 个非门
原理图和电路图
仿真测试
冒险检测
- 设置\(D_0=D_1=S=1\),观察输出值
两个探针处还是保持原状态,分别是 1 和 0,说明非门的输入端并没有随着 S 的改变而立即发生变化 - 第一次单步仿真
此时非门输入端发生变化,但其输出端没有立即发生变化 - 第二次单步仿真
此时非门输出为 1,但上面的与门的输出没有变化 - 第三次单步仿真
- 第四次单步仿真
直到第 4 次单步仿真后每个逻辑门才都转变为正确的输入/输出状态
单步仿真过程反映了信号在电路中的延迟情况。第1 次点击进行单步仿真后,经过后续 3 次单步仿真后整个电路得到正确的输入/输出状态,即从输入到输出共经过了非门、与门和或门 3 级逻辑门延迟
错误现象及分析
- 没有遇到错误
1.4
- 使用传输门实现选择器
整体方案设计
输入输出引脚
- \(D0,D1\):两个输入端
- \(S\):控制端,用于从D1,D2中选择作为结果
原理图和电路图
原理图
电路图
仿真测试
代表性输入输出
- \(D0=1 \ D2=0 \ S=0\)
- \(D0=0 \ D2=1 \ S=1\)
错误现象及分析
没有遇到错误
1.5
整体方案设计
输入输出引脚
- \(D(D0~D3)\):四位输入
- \(S(S0~S1)\):两位控制信号,用于选择输入作为结果
原理图和电路图
- 4-1 MUX
- 2-1 MUX
仿真测试
代表性输入输出
- \(D=0001 \ S=00\)
- \(D=0100 \ S=01\)
错误现象及分析
没有遇到错误
思考题
根据 2 选 1 多路选择器的与-或电路,替换成与非-与非电路,并分析两种电路的特性。
只需要证明与门,或门和非门都可以通过与非门实现
实际上,我们有:\(\overline{S}=S \text{NAND} S, A+B=\overline{\overline{A}\cdot\overline{B}}=(A\space NAND\space A)\space NAND\space (B \space NAND\space B)A\cdot B=\overline{\overline{A\cdot B}}=\overline{\overline{A}+\overline{B}}\)(然后套入前面一个公式即可)
特性:
- 与-或电路直观,但晶体管数较多导致功耗和面积较高
- 与非-与非电路反之