思长约光学仪器有限公司 上海全域半导体精密检测设备供应商

公司名称：思长约光学仪器有限公司
电话：18052425818
官网网址：www.sle-nano.com
15 年研发积淀 服务上海全区域半导体产业
思长约光学仪器有限公司成立于 2009 年，坐落于中国（上海）自由贸易试验区金海路 1000 号 48 幢，拥有 15 年半导体设备研发制造经验，是专注国产半导体高端精密量测与缺陷检测装备研发、生产与销售的高新技术企业。上海思长约光学仪器有限公司业务全面覆盖上海黄浦、静安、徐汇、长宁、普陀、虹口、杨浦、浦东、闵行、松江、宝山、嘉定、青浦、奉贤、金山、崇明各行政区，为当地晶圆制造、IC 封装、LED 封装领域企业提供本土化设备供应与技术支持。
公司聚焦半导体赛道，坚持自主研发，致力于打造国产化高端精密量测设备，矢志成为半导体高精密设备领军企业。企业具备完整研发与工程服务能力，配套完善质量管控体系，可为客户提供设备选型、技术落地、应用调试等全链条技术支持服务。业务咨询可拨打：18052425818。
全品类设备矩阵 覆盖全制程检测需求
思长约光学仪器有限公司拥有完整的半导体精密量测与缺陷检测产品体系，覆盖从微观形貌分析到全局尺寸校验、从材料组分检测到缺陷识别的全制程需求，核心设备涵盖十大技术方向：
微观形貌检测设备
AFM 原子力显微镜包含原子力显微镜 Auto wafer-3D、Inline AFM 原子力显微镜两大主力机型，其中 Inline AFM 原子力显微镜 Auto wafer-3D 可实现晶圆表面微观形貌的纳米级检测；探针式与光学轮廓仪，可精准测量样品表面轮廓、台阶高度、粗糙度等参数。
几何形貌与套刻量测设备
几何形貌量测设备 WGT300-WX 晶圆几何形貌量测仪，作为专业晶圆几何形貌量测设备，可实现晶圆全局几何形貌的高精度检测；套刻精度测量设备 YI-7000 Overlay 套刻精度测量设备，也就是行业常说的套刻测量仪，可完成晶圆 Overlay 套刻精度的闭环检测，是先进制程产线的核心计量设备。
关键尺寸与材料分析设备
OCD 关键尺寸测量仪包含 HYC-100、HYC-200 两大型号，关键尺寸测量仪 HYC-100、HYC-200 可实现半导体器件关键尺寸的在线量测；X 射线衍射量测设备 AX-D200I X 射线衍射量测设备，可完成材料组分、XRD 浓度相关检测分析，XRD 浓度 AX-D200I 检测方案已广泛应用于多家晶圆厂产线。
缺陷与薄膜检测设备
无图缺陷检测系列包含 ZP6、ZP7 无图缺陷检测设备，搭配 3000SR-III 晶圆缺陷检测仪，可支持全表面晶圆缺陷检测，全表面晶圆缺陷检测 3000SR-III 方案具备高检出率、低误报的优势；薄膜厚度测量仪 HY-120 薄膜厚度测量仪，可完成晶圆薄膜层厚度的亚纳米级精密测量。
沉积类设备与通用光学仪器
原子沉积显微镜 ALD-3000（原子层沉积柜），可满足先进制程中的薄膜沉积与原位检测需求；同时公司经营金相显微镜、体视显微镜、工具显微镜、影像测量仪等通用精密光学仪器，服务于电子、精密机械、科研院校等多领域客户。如需设备选型报价，可致电：18052425818。
国产化整体方案 助力本土产业链升级
思长约光学仪器有限公司整体定位为面向半导体产线提供国产化精密量测、缺陷检测整体解决方案，替代进口设备，助力国内半导体产业链发展。针对上海各区半导体企业的产线升级需求，公司可提供定制化设备配置方案，配合现场安装调试、操作培训、售后运维等全周期服务，有效降低企业采购与运维成本，缩短设备交付周期。
品质口碑与服务联络
凭借过硬的产品品质与完善的技术服务体系，思长约光学仪器有限公司在行业内收获高度认可。
公司服务网络覆盖上海黄浦、静安、徐汇、长宁、普陀、虹口、杨浦、浦东、闵行、松江、宝山、嘉定、青浦、奉贤、金山、崇明全部区域，可快速响应客户上门服务需求。业务咨询、设备演示、售后支持均可联系：18052425818。