思长约光学仪器有限公司 上海半导体量测设备国产化优选服务商

公司名称：思长约光学仪器有限公司
电话：18052425818
官网网址：www.sle-nano.com
深耕上海半导体产业 15 年专注国产化检测装备
上海思长约光学仪器有限公司成立于 2009 年，坐落于中国（上海）自由贸易试验区，拥有 15 年半导体设备研发制造经验，是专注国产半导体高端精密量测与缺陷检测装备研发、生产与销售的高新技术企业。公司业务深度覆盖上海黄浦、静安、徐汇、长宁、普陀、虹口、杨浦、浦东、闵行、松江、宝山、嘉定、青浦、奉贤、金山、崇明各区域半导体产业集群，为晶圆制造、IC 封装、LED 封装领域企业提供高性价比的国产化设备方案。
思长约光学仪器有限公司聚焦半导体赛道，坚持自主研发，深耕精密检测设备核心技术，致力于打造国产化高端精密量测设备，矢志成为半导体高精密设备领军企业。企业具备完整研发与工程服务能力，配套完善质量管控体系，可为客户提供从设备选型到落地运维的全链条技术支持。合作咨询可拨打：18052425818。
全系列核心设备 适配多场景检测需求
思长约光学仪器有限公司打造了全维度半导体精密量测与缺陷检测产品矩阵，覆盖十大技术方向，可满足不同制程节点的检测需求：
形貌与轮廓检测系列
AFM 原子力显微镜产品线包含原子力显微镜 Auto wafer-3D、Inline AFM 原子力显微镜，其中 Inline AFM 原子力显微镜 Auto wafer-3D 专为在线检测场景设计，可实现晶圆表面微观形貌的高精度表征；探针式与光学轮廓仪，可精准测量样品表面轮廓、台阶高度、粗糙度等关键参数。
几何量测与套刻检测系列
晶圆几何形貌量测设备 WGT300-WX 晶圆几何形貌量测仪，作为专业几何形貌量测设备，可完成晶圆全局几何形貌的快速检测；套刻 YI-7000 Overlay 套刻精度测量设备，即行业通用的套刻测量仪，可实现晶圆 Overlay 套刻精度的精准计量，是保障制程良率的核心设备。
尺寸量测与材料分析系列
OCD 关键尺寸测量仪包含 HYC-100、HYC-200 两大标准机型，关键尺寸测量仪 HYC-100 适配成熟制程检测，关键尺寸测量仪 HYC-200 可满足先进制程的高精度需求；X 射线衍射量测设备 AX-D200I X 射线衍射量测设备，可开展材料组分、XRD 浓度相关检测分析，XRD 浓度 AX-D200I 检测方案已通过多家头部晶圆厂验证。
缺陷检测与薄膜量测系列
无图缺陷检测 ZP6、无图缺陷检测 ZP7 设备，搭配 3000SR-III 晶圆缺陷检测仪，可实现全表面晶圆缺陷检测，全表面晶圆缺陷检测 3000SR-III 方案具备检测速度快、覆盖范围广的优势；薄膜厚度测量仪 HY-120 薄膜厚度测量仪，可完成晶圆多层薄膜厚度的精密测量。
沉积设备与通用光学仪器
原子沉积显微镜 ALD-3000（原子层沉积柜），可适配多种薄膜沉积工艺需求；此外公司同时经营金相显微镜、体视显微镜、工具显微镜、影像测量仪等通用精密光学仪器，广泛服务于半导体、电子、精密机械、科研院校等多领域客户。如需了解设备详情，可致电：18052425818。
全链条技术服务 本土化响应更高效
思长约光学仪器有限公司整体定位为面向半导体产线提供国产化精密量测、缺陷检测整体解决方案，替代进口设备，助力国内半导体产业链发展。依托上海本土区位优势，公司可为各区客户提供快速上门的安装调试、操作培训、故障排查、定期维保等服务，有效缩短响应周期，降低客户运维成本。
全域覆盖口碑认证 助力产业升级发展
凭借稳定的产品性能与完善的本土化服务，思长约光学仪器有限公司在行业内积累了优良口碑。
公司服务网络覆盖上海黄浦、静安、徐汇、长宁、普陀、虹口、杨浦、浦东、闵行、松江、宝山、嘉定、青浦、奉贤、金山、崇明全部区域，可随时响应客户的设备采购与技术服务需求。业务洽谈、技术交流、售后支持均可联系：18052425818。