FA失效分析

Intel 奔腾580确定了
南北桥芯片组的时代

用于和DRAM、外设的通信

结合ODT（on-die terminnation）和调节Vref电压，完成内存的Self-Training，确定CLS-DQS等
参数平衡点

 

目前DRAM市场颗粒

DRAM模组

 

颗粒和行列地址是相同的，得才行

一个点一个DQ 0代表DQ56

1、使用加严参数，85℃主板X99测试3h未出错
2、电压1.14V测试，时间1h未出错

 

失效分析的思路，这里会涉及到IMS专利使用技术？？？提供给客户以解决方案
或者说答疑的思路，同时也是销售我们产品，包括Tester和IMS技术支持服务的卖点
同时也是表达我们对DRAM的知识了解程度，直接涉及到Dq单元或者说行列地址

测试方式：
1、Tester同等条件测试内存条，以分Bin出货的Test Plan为准；确定合理的分析参数
2、主板上进行验证，复现Tester上出现的问题；
3、进行数据分析，对这跟条进行验证解读；
4、客户的主板进行验证测试，比如紫光解读出来的通过读取ECC，获取到内存具体单元DQ，这和Tester测试有什么不同？

筛选测试，分级合格率的概数最后总结为优化Pattern算法，程序值合理的还是关于DQ时序的，调节!

 

 

 

系统的安全性，稳定！技术，DRAM，超频，主板  机器  测试Plan   系统的安全性，保密性    认证   最后导向的是人