2026/7/25

今天接着昨天的内容写，我之前阅读了关于X光显微成像的方法在储存状态下在孔径尺度测量接触角，Method的部分分为六个步骤。第一步，先对拍摄到的照片进行过滤处理；第二步，对过滤后的照片统一进行三维高斯函数的处理以去除伪影。高斯函数处理后的照片分为两部分：只含有干燥状态物体（如scCO2等）的照片和含有多种流体混合后的照片。在含有多种流体混合的照片中，我们对所识别到的物体进行标注处理；第三步，对于含有多种流体混合的照片，我们将第二步中标注物体的图片的subvolume单独提取出来，再次进行一遍二维图像分割，之后通过三维滤波器找到各相边缘并标记接触点，最后进行2D直方图种子分水岭法处理。由于多种流体混合会使得物体侧面的伪影在处理过程中不能被消除干净，所以需要对物体的图片单独再处理一遍提升处理质量；第四步，对经照片进行双线性滤波。通常我们拍摄到的图片的基本构成单元是像素。在后续提取角度时，若物体图片的表面都是矩形状的像素，最终得到的物体表面的切线角度会受到影响；第五步，测量接触角。
以上就是之前阅读的论文中Method的全部内容。有长足进步，继续加油！！！