mbist介绍

Mbist是memory build-in-self test的缩写，意为存储器内建自测试。
“内建”的含义是指针对存储器的测试向量由内建的存储器测试逻辑自动产生，而非外部测试机台（ATE：Auto-Test-Equipment）生成。Mbist测试中，只需要借助机台通过JTAG接口传输测试的指令，就可以从TDO接口获取测试结果。

具体模型如下：

为什么要进行内建自测试？
进行内建自测试的原因主要有：
a) 降低测试成本——现代芯片在较小的面积中集成了较多存储单元，ATE的测试成本过高，不适用于从外部灌入针对存储器的测试向量。
b) Memory测试的特殊性——需要测试的单元很多，但分布规整，可利用算法批量产生测试向量。
c) 在线测试的需求——芯片的安全性要求逐步提高，例如汽车电子芯片，需要在芯片运行时仍保持在线测试（即不依赖测试机台，可集成于板级、芯片内或由软件调用，来实现随时随需的测试），随时排除可能出现的故障。
什么是Mbist Repair?
Memory在芯片中占据很大面积，对芯片良率有重要影响，为了避免memory低良对芯片的影响，通常添加冗余或备用的存储单元行和列，及时将测试中的故障进行修复和替换，修复过程包括行修复、列修复或两者的组合。

修复一般包括两个步骤：
a） 故障诊断，先用mbist进行memory故障诊断
b） 确定需要修复替代的值：BIRA interface（内置冗余分析）基于冗余结构和mbist测试得到的内存故障数据，计算修复信息，并通过BISR chain scan out压缩烧写到efuse阵列中。复位后，重新在BISR controller中解压efuse中的修复信息，修复memory，最后对修复结果进行确认。
Mbist的常用算法
目前存在的几种通用的mbist算法，比如“march”算法、Checkerboard算法等。算法这部分比较深，在这里就不班门弄斧了。
具体可以参考：
https://link.zhihu.com/?target=https%3A//www.doc88.com/p-774450611456.html

图片引自《MBISTArchitect™ Process Guide》
参考文献：

《数字系统测试和可测试性设计》

(13条消息) Tessent专栏之一：MBIST工具介绍_马洛w的博客-CSDN博客_mbist

《MBISTArchitect™ Process Guide》

MBIST总结(转载)http://blog.eetop.cn/blog-840234-29044.html - wangheping123的日志 - EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网) -

基于MarchC+算法的MBIST设计

Memory Testing: MBIST, BIRA & BISR - Algorithms, Self Repair Mechanism (einfochips.com)