【SPIE出版】第五届检测技术与自动化工程国际学术会议(TTAE 2025)

往届递交出版后见刊快至1个月，见刊1个月后实现EI、Scopus检索！
征稿范围涵盖自动化工程、检测技术、电气工程，欢迎广大学者踊跃投递
第五届检测技术与自动化工程国际学术会议(TTAE 2025)
The 5th International Conference on Testing Technology and Automation Engineering
2025年11月14-16日，中国-长沙
参会者均可获得正规带章的国际学术会议参会证书，可用于加学分、项目结题等
会议官网（参会/投稿）：【点击】
投稿审核：先投稿，先送审
截稿时间：多轮截稿，官网为准
出版信息：SPIE (ISSN: 0277-786X)出版
收录检索：EI Compendex，Scopus
支持单位：华南理工大学、King Fahd University of Petroleum and Minerals、Tomas Bata University in Zlín

征稿主题（包括但不限于）
导航、制导与控制
惯性技术及导航设备
信息融合与智能控制
智能仪器控制技术
GNSS技术及其应用
新型控制技术及其在导航中的应用
微型机电系统和微型机器人
应用技术及系统设计和自动化新技术
传感器无线传输网和现场总线控制技术
自动测试理论
测试计量技术及仪器
复杂系统建模与仿真
MATLAB系统分析语言及应用
多传感器融合理论与应用
最优估计与系统辨识
人工神经网络
在线检测及无损检测技术
光电检测及计算机视觉检测技术
遥感和遥测技术
建模与仿真
自动测试理论
工业自动化
光电传感器
电厂自动化
无线通信
嵌入式系统
智能家居
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