【JPCS出版 | 中国-昆明】第六届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2026）

第六届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2026）将于2026年12月4-6日在中国昆明举行。DTIS 2026会议旨在为从事检测技术与智能系统领域的专家学者、工程技术人员、技术研发人员提供一个共享科研成果和前沿技术，了解学术发展趋势，拓宽研究思路，加强学术研究和探讨，促进学术成果产业化合作的平台。大会诚邀国内外高校、科研机构专家、学者，企业界人士及其他相关人员参会交流。

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截稿时间：多轮截稿，官网为准

论文出版与检索
本会议投稿经过2-3位组委会专家严格审核之后，最终所录用的论文将由Journal of Physics: Conference Series(JPCS)(ISSN:1742-6596)收录出版，出版后提交EI Compendex, Scopus检索。

征稿主题（包括但不限于）
传感器技术、信号与信息处理、光学测量技术、光电测量与控制系统、机器人传感与数据融合、系统建模与辨识、智能故障检测与诊断、数据分析与大数据挖掘、嵌入式系统与传感器网络、分布式控制系统、面向检测系统的人工智能、自动检测与转换技术、光电子技术、智能无损检测、计算机控制

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