【北京信息科技大学主办 | 北京举办】第二届光学成像与检测技术国际学术会议（OIDT 2026）

第二届光学成像与检测技术国际学术会议（OIDT 2026）将于2026年10月30日-11月1日在中国-北京隆重召开。会议将围绕“光学成像”、“检测技术”等相关最新研究领域，为来自国内外高等院校、科学研究所、企事业单位的专家、教授、学者、工程师等提供一个分享专业经验，扩大专业网络，面对面交流新思想以及展示研究成果的国际平台，探讨本领域发展所面临的关键性挑战问题和研究方向，以期推动该领域理论、技术在高校和企业的发展和应用，也为参会者建立业务或研究上的联系以及寻找未来事业上的全球合作伙伴。

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截稿时间：多轮截稿，官网为准

组织单位
主办单位：北京信息科技大学
联合主办单位：北京云端光科技术有限公司
承办单位：北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院

论文出版与检索
所有的投稿都必须经过2-3位组委会专家审稿，经过严格的审稿之后，最终所有录用的论文将提交至SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X)出版，见刊后提交至EI Compendex, Scopus检索。

征稿主题（包括但不限于）
计算光学成像与计算摄影，多光谱与高光谱成像，先进光学检测与无损评估，光纤传感与检测技术，人工智能辅助光学检测与成像，成像数据融合与可视化，图像处理算法与增强技术，机器学习与深度学习在成像中的应用，多传感器数据融合与集成，图像重建，激光光学成像与检测，太赫兹成像与检测，自适应光学与波前调控，微纳光学与超表面成像

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