【连续四届EI稳定检索，往届快至会后3个月EI检索】第五届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2026)

第五届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2026)

第五届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2026)定于2026年4月24至26日在武汉隆重举行。MVAID 2026将围绕“机器视觉”与"自动识别与检测”等相关最新研究领域，为来自国内外高等院校、科学研究所、企事业单位的专家、教授、学者、工程师等提供一个分享专业经验，扩大专业网络，面对面交流新思想以及展示研究成果的国际平台，探讨本领域发展所面临的关键性挑战问题和研究方向，以期推动该领域理论、技术在高校和企业的发展和应用，欢迎各位领域内专家学者投稿参会！

【连续四届EI稳定检索，往届快至会后3个月EI检索】

截稿时间：多轮截稿，官网为准

组织单位
主办单位：武汉东湖学院

论文出版与检索
所有的投稿经过严格的审稿之后，最终所录用的论文将由SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X)出版，出版后将提交至EI Compendex和Scopus检索 。

征稿主题（包括但不限于）
图像处理与计算机视觉、图像/视频处理与分析、图像的获取、压缩、编码、传输、存储与检索、图像修复与增强、运动与视频分析、抠图、跟踪与监控、计算成像与视觉、3D成像、立体与多视图处理、计算几何、基于物理的视觉模型、识别与理解、目标识别、人脸与手势识别、生物特征认证、场景理解与图像分割、模式识别与机器学习、经典模式识别、统计与结构模式识别、监督与非监督分类、特征降维与贝叶斯方法、机器学习与深度学习、深度学习、神经网络、集成学习、小样本学习、自监督/迁移学习、面向视觉任务的大模型技术、认知与解释性、探索认知与生物启发视觉、视觉中的模糊计算、模型的可解释性、视觉检测技术与仪器、先进视觉检测技术、三维光学与精密测量、几何量动态测量、智能光学成像、智能识别与算法、工业场景下的缺陷智能识别、AI目标识别、结合深度学习的检测方法、系统集成与可靠性、多模态融合检测、多传感器标定、复杂环境下的鲁棒性检测技术、工业与机器人视觉应用、智能制造与质检、工业产品自动检测、预测性维护、智能物流与无人车感知、机器人视觉、机器人主动视觉、视觉伺服控制、物体识别与抓取、即时定位与地图构建、无人系统与自动驾驶、无人机视觉用于农业与环境监测、自动驾驶中的感知、路径规划与多传感器融合、跨学科与前沿应用、医疗与生物医学、医学影像处理与分析、计算机辅助诊断、细胞识别、生物医学信号处理、遥感与地理信息、遥感图像处理、地理信息系统、海洋/水下信号处理、新兴交互与数字世界、增强现实与虚拟现实、数字艺术、人机交互、元宇宙中的视觉内容生成、智慧农业与安防、基于无人机或机器人的作物监测、农田管理、视频监控与行为分析
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