【JPCS出版 | 连续4届均已实现EI，Scopus检索】第五届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2025）

【华东交通大学主办】

【EI稳定检索】

第五届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2025）

The 5th International Conference on Detection Technology and Intelligence System

重要信息

大会官网：www.icdtis.org 【点击进入】

大会时间：2025年12月12-14日

大会地点：中国-南昌

检索类型：EI Compendex, Scopus

出版类型：Journal of Physics: Conference Series (JPCS) (ISSN:1742-6596）出版论文集

主办单位：华东交通大学

论文出版

所有的投稿都必须经过2-3位组委会专家严格审稿，最终所有录用的论文将以会议论文集形式递交给Journal of Physics: Conference Series (JPCS) (ISSN:1742-6596)出版，见刊后由出版社提交至 EI Compendex, Scopus 检索。

征稿主题

track 1：检测技术

微测控装置与系统、传感技术与应用、机电信号检测与处理、自动检测与转换技术、检测技术与自动化装置的研究与应用、自动检测系统的控制运行与维护、电路基础、电子技术、机械设计、金属材料与热处理、工业分析技术、无损探伤、测量仪器与仪表、传感器与自动检测、微机原理与接口技术、计量技术

track 2：智能系统

机器人传感和数据融合、系统建模和识别、智能在线无损检测系统及应用、智能故障检测与诊断、人工智能驱动的技术应用、计算机控制、智能机器人、事件与数据驱动控制、飞行器导航、制导与控制、嵌入式系统与无线传感网络、工业计算机集散控制系统、人工智能方法和系统、人机交互技术、计算机视觉、自然语言处理、控制原理、数据分析与大数据挖掘

track 3：自动测控系统

智能化测控技术、非接触测量、仪表智能化技术、现代控制技术、测控系统与诊断技术

其他相关主题均可【投稿】