【硬件测试】基于FPGA的8PSK调制解调系统开发与硬件片内测试,包含信道模块,误码统计模块,可设置SNR

1.算法仿真效果

本文是之前写的文章:

 

基于FPGA的8PSK调制解调系统,包含testbench,高斯信道模块,误码率统计模块,可以设置不同SNR-CSDN博客

 

的硬件测试版本。

 

在系统在仿真版本基础上增加了ila在线数据采集模块,vio在线SNR设置模块,数据源模块。

 

硬件ila测试结果如下:(完整代码运行后无水印):

 

vio设置SNR=20db

 

 

 

ila硬件测试数据导出,用matlab显示星座图:

 

 

 

vio设置SNR=15db

 

 

ila硬件测试数据导出,用matlab显示星座图:

 

 

 

硬件测试操作步骤可参考程序配套的操作视频。

 

2.算法涉及理论知识概要

        随着通信技术的不断发展,相位调制技术因其高频谱效率和抗干扰能力而广泛应用于无线通信系统中。其中,8PSK(8相位相移键控)作为一种高阶调制方式,具有更高的频谱效率和更强的抗干扰能力,因此备受关注。然而,8PSK调制解调的实现复杂度较高,需要高效的数字信号处理技术。现场可编程门阵列(FPGA)作为一种可编程逻辑器件,具有高度的灵活性和并行处理能力,非常适合实现复杂的数字信号处理算法。

 

       8PSK调制是一种相位调制方式,其基本原理是通过改变载波的相位来传递信息。在8PSK中,一个符号周期内的相位变化有8种可能的状态,分别对应3个比特的信息。因此,8PSK调制可以看作是一种将3个比特映射到一个符号的映射方式。具体地,假设输入的比特序列为b2b1b0,则对应的8PSK符号可以表示为:

 

        S(t)=Acos(2πfct+θk) (1)

 

        其中,A是载波的振幅,fc是载波的频率,θk是第k个符号的相位,k=0,1,...,7。θk的取值由输入的比特序列b2b1b0决定,具体的映射关系如表1所示。

 

1:8PSK映射关系

 

 

 

其星座图如下所示:

 

 

 

3.Verilog核心程序

module tops_hdw(
 
input i_clk,
input i_rst,
output reg [3:0] led
);
    
 
wire o_msg;
 
//产生模拟测试数据
signal signal_u(
.i_clk (i_clk),
.i_rst (~i_rst),
.o_bits(o_msg)
);
 
//设置SNR
wire signed[7:0]o_SNR;
vio_0 your_instance_name (
  .clk(i_clk),                // input wire clk
  .probe_out0(o_SNR)  // output wire [7 : 0] probe_out0
);
 
 
wire[2:0]o_ISET;
wire signed[15:0]o_I8psk;
wire signed[15:0]o_Q8psk;
wire signed[15:0]o_Ifir_T;
wire signed[15:0]o_Qfir_T;
wire signed[31:0]o_mod_T;
wire signed[15:0]o_Nmod_T;
wire signed[31:0]o_modc_R;
wire signed[31:0]o_mods_R;
wire signed[31:0]o_Ifir_R;
wire signed[31:0]o_Qfir_R;
wire  [2:0]o_wbits;
wire       o_bits;
wire signed[31:0]o_error_num;
wire signed[31:0]o_total_num;  
TOPS_8PSK TOPS_8PSK_u(
.i_clk      (i_clk),
.i_rst  (~i_rst),
.i_SNR  (o_SNR),
.i_dat  (o_msg),
.o_ISET (o_ISET),
.o_I8psk(o_I8psk),
.o_Q8psk(o_Q8psk),
.o_Ifir_T (o_Ifir_T),
.o_Qfir_T (o_Qfir_T),
.o_mod_T  (o_mod_T),
.o_Nmod_T(o_Nmod_T),
.o_modc_R (o_modc_R),
.o_mods_R (o_mods_R),
.o_Ifir_R (o_Ifir_R),
.o_Qfir_R (o_Qfir_R),
.o_wbits(o_wbits),
.o_bits (o_bits),
.o_error_num(o_error_num),
.o_total_num(o_total_num),
.o_flag(o_flag)
);
 
//ila篇内测试分析模块
ila_1 ila_u (
	.clk(i_clk), // input wire clk
	.probe0({ 
	        o_msg,o_SNR,//9
	        o_Ifir_T[15:6], o_Qfir_T[15:6],o_Nmod_T[15:6],//36
	        o_modc_R[27:12],o_mods_R[27:12],o_Ifir_R[27:12],o_Qfir_R[27:12],//64
	        o_bits,
	        o_error_num,o_total_num,errflag,//64
            o_rec2,o_flag
	         })
	);
	
	
	
endmodule
0sj_030m

  

 

4.开发板使用说明和如何移植不同的开发板

注意:硬件片内测试是指发射接收均在一个板子内完成,因此不需要定时同步模块。

 

在本课题中,使用的开发板是:

 

 

 

如果你的开发板和我的不一样,可以参考代码包中的程序移植方法进行移植:

 

 

posted @ 2025-01-03 16:57  我爱C编程  阅读(73)  评论(0)    收藏  举报