Posted on 2007-12-07 17:25
马宁 阅读(2310)
评论(4) 编辑 收藏
进入12月“Windows Embedded从入门到精通”课程请来了两位从业经验丰富且技术功底深厚的讲师。两位老师都曾经在MEDC上有过精彩的演讲。这次Webcast选择的话题也都是实际开发经常遇到的难题，两位老师会分享自己的开发经验，来共同探讨内存泄露与调试、性能优化这些“高端”难题的解决方案。
Windows CE 内存泄漏的检测和防止
2007年12月12日星期三下午 2：30
http://msevents.microsoft.com/CUI/WebCastEventDetails.aspx?EventID=1032361286&EventCategory=4&culture=en-US&CountryCode=US
讲座内容：
很多嵌入式设备是长时间不间断运行的，即使是些微的内存泄漏(Memory Leak)，也会积少成多，对嵌入式系统带来灾难性的影响。本节课介绍 Windows CE 的内存管理机制，内存泄漏的检测方法和防范手段。
课程讲师：
黄文中 Windows Embedded MVP(微软最有价值专家)
黄文中先生，北京大学理学硕士，微软嵌入式系统培训讲师(Embedded Training Instructor)，微软嵌入式系统最有价值专家（MVP For Windows Embedded），微软系统工程师（MCSE）在嵌入式操作系统定制、驱动开发及应用集成方面有很深的造诣。
技术等级：
Level 300
Windows CE 5.0/Windows Mobile调试与性能优化
2007年12月26日星期三下午 2：30
http://msevents.microsoft.com/CUI/WebCastEventDetails.aspx?EventID=1032361320&EventCategory=4&culture=en-US&CountryCode=US
讲座内容：
通过认识Windows CE系统架构和运行机制，结合相应的调试工具和分析手段，定位系统瓶颈和问题点。
课程讲师：
滕建超 微软(中国)有限公司企业服务部咨询顾问
微软中国企业服务部咨询顾问，负责嵌入式行业的开发咨询。在车载电子及移动通讯行业有多年的从业经验。
技术等级：
Level 300