2020年10月12日
选择MRAM最佳测试算法
摘要： 嵌入式内存测试和修复的挑战是众所周知的，包括最大程度地扩大故障覆盖范围以防止测试失败以及使用备用元件来最大程度地提高制造良率。随着有前途的非易失性存储器架构的可用性不断增加，以增加并潜在地替代传统的易失性存储器，新的SoC级存储器测试和修复挑战不断涌现。通过将自旋转移扭矩MRAM（STT-MRAM） 阅读全文
posted @ 2020-10-12 14:13 宇芯电子 阅读(211) 评论(0) 推荐(0)