摘要：周一流的芯片就要回来了，基本的测试工作也做了好多，大概总结一下吧，也算是个留念首先，出现问题了最先考虑的一定是板级的外围电路是否正常工作了0. 连接线， 这个东西绝对是最基本的问题，但是往往一些同学会被这玩意坑的很深，不多说，一定要全部测量，不能省下任何一个连接线不去测量。1. 测量仪器，这个东西出了问题真的是要命的，比如用示波器测量的时候就一定要关注探头是否是好的，是否接错了通道，是否幅值调整的有问题，是否触发源设置的有问题，是否因信号过快结果没法采样到待观测信号。而万用表如果只是测量通断的时候还好说，用来测量真正的电压的时候也不要以为万用表就不会坏，有可能没有坏，但是可能出现测量值不准确的 阅读全文

摘要：流星蝴蝶剑里面，一下子就征服我的一句话 阅读全文

摘要：基本上处理的都是软件方面的事宜，由于MSP430 5519造价太高，于是有了平台移植的一个工作，移植到430 5418上面，于是就把所有的底层函数重新写了一遍，截止到昨天总算是完成了，其实里面的学问还是蛮多的，由于是临时的现场飞线的板子，晶振十分的不稳定，所以程序时而跑飞，时而跑飞的。而且平台不稳定的问题基本解决，主要影响的因素还是时钟线的问题，不知道是时钟插座不好，还是时钟线不好，反正是在G21的时钟pin上会出问题，重新分配到J21上面就没有问题了。板级的问题还是挺值得关注的，不稳定的平台会让你欲生欲死的。接着周末的SKY1301的芯片就能回来，就要进行测试了，这个东西还是挺让人担心的，最 阅读全文

摘要：接受上级指示，写了一些之前sky1301的软件为接下来的测试做准备，结果就发现恢复之前的平台出了问题。总的来说，弄坏了两个串口，两个430， 感觉还挺不结实的~这周把我之前准备写的UART终于算是写完了测试完了，还挺辛苦的。因为具体到应用的细节有很多的东西都需要想清楚，就很耽搁时间了。寄存器就是最基本的REG_BUS，倒是也方便往别的总线上面移植。总体来说还是写了不少东西，感悟嘛也是有一点，比如状态机在嵌套的时候应该怎么做，大体我的方式都是用个类似握手那样的信号来处理，比如母状态机在跳转子状态机的时候给个start，之后子状态机想要跳回的时候给个done信号，最好不要在一个模块里面弄多个时钟域 阅读全文

摘要：有用的东西就写在下面了，就当是纪念一下自己的微博了【】很有用的指令组合可以加上或的标记| 这样ps -e u|grep test就可以找到test用户的左右的进程并且列出。2011-8-1 21:32【】强大到不能解释的gvim，新功能发现。 "Ctrl-X Ctrl-L”（搜索可匹配的行并完成）、“Ctrl-X Ctrl-F”（搜索可匹配的文件名并完成）【】如果你写16位汇编程序，比较好的组合是Dosbox+Turbo Assembler或者选择emu8086。前者可以在XP下模拟出很逼真的DOS环境并从事纯DOS下的汇编程序设计。后者是一个集编辑、汇编、链接、 调试于一体的环境， 阅读全文

摘要：NOR和NAND是现在市场上两种主要的非易失闪存技术。Intel于1988年首先开发出NOR flash技术，彻底改变了原先由EPROM和EEPROM一统天下的局面。紧接着，1989年，东芝公司发表了NAND flash结构，强调降低每比特的成本，更高的性能，并且象磁盘一样可以通过接口轻松升级。但是经过了十多年之后，仍然有相当多的硬件工程师分不清NOR和NAND闪存。相“flash存储器”经常可以与相“NOR存储器”互换使用。许多业内人士也搞不清楚NAND闪存技术相对于NOR技术的优越之处，因为大多数情况下闪存只是用来存储少量的代码，这时NOR闪存更适合一些。而NAND则是高数据存储密度的理想 阅读全文

摘要：在硬件系统出厂前要进行产品测试；在嵌入式系统工作之前，一般也要进行自检，其中ROM和RAM检测必不可少,可是有不少人对于测试目的、原因和方法存在错误理解。为 什么要测试ROM和RAM，怎么测试呢？普遍的看法是：由于担心ROM和RAM芯片损坏，在出厂和使用前应该校验这两种芯片的好坏。测试RAM的方法是写 读各个内存单元，检查是否能够正确写入；测试ROM的方法是累加各存储单元数值并与校验和比较。这种认识不能说错，但有些肤浅，照此编出的测试程序不完 备。一般来说，ROM和RAM芯片本身不大会被损坏，用到次品的概率也比较小，真正出问题的，大都是其他硬件部分，因此，测试ROM和RAM往往是醉翁之 意不在 阅读全文