摘要： 我们都知道 USB 热拔插会产生浪涌和瞬间的尖峰电压。 同时我们经收集工厂对市面上多家品牌常规充电芯片的反馈收集， 我们会发现有 2-5‰左右的不良， 经过对芯片进行收集， 开盖， 研究， 分析， 收集到其中约 50%是在瞬间尖峰电压过高导致超过芯片极限耐压， 过高的电压把芯片内部打损坏。 在此没有 阅读全文