2023年5月9日
OCC的架构功能介绍
摘要： 在130nm及以下的工艺中，即使一个很小的Delay Fault也会影响芯片正常工作的频率，导致芯片的时序不能满足设计要求。因此Delay Fault成为影响芯片质量的主要因素之一。 At-speed test已被证明是用来测试Delay Fault的有效方法，at-speed test就是让芯片在 阅读全文
posted @ 2023-05-09 18:04 luckylan 阅读(2517) 评论(0) 推荐(0)