2025年6月26日
芯片测试中由MCU下载程序，测试芯片内接口、FLASH等情况
摘要： 芯片测试中“由 MCU 下载程序，测试芯片内部接口、FLASH 等情况并反馈结果”通常是在生产测试（ATE）或板级测试（ATE-BIT/BIST）阶段使用的一种自测试（BIST）机制，主要用于验证芯片功能是否合格，特别适用于 射频芯片、SoC、MCU 芯片 等具有 Flash 或外设的器件。 1.整 阅读全文
posted @ 2025-06-26 09:31 似梦亦非梦 阅读(111) 评论(0) 推荐(0)