芯片测试中的Tx和Rx测试实现

在芯片测试流程中，“测试 Tx 和 Rx” 是指对芯片的 发送（Transmit）和接收（Receive）能力进行验证，特别常见于射频芯片、通信芯片、雷达芯片、Wi-Fi/蓝牙模块等。

1.Tx 和 Rx 是什么？

2.测试目的

3.典型测试流程

4.所需 NI 测试设备（推荐）

5.测试结果示例

6.测试注意事项

7.分析Rx测试表格的参数含义及判断指标

以上这个测试表格反映的是芯片接收端（Rx）的性能测试，主要通过以下几个关键参数进行评估：

7.1 表格字段含义

7.2 判定的依据：是否满足产品规格

通常 Tx/Rx 测试中，厂商会根据标准或设计规格制定误码率 vs 接收灵敏度的指标，比如：

7.3 分析表格中的数据

7.4 判定规则举例

比如你芯片文档定义如下规格：

“芯片在信号强度 -90 dBm 时，BER 必须 ≤ 1e-3”，那么测试值 -95 dBm 时 BER = 2.1e-3 超出了标准，不通过（Fail）是合理的判定。

7.5 实际测试中如何判定通过

1. 测试多个不同信号强度下的 BER

2. 找出 BER ≤ 1e-3 的最小接收信号强度

3. 判断该值是否满足设计的接收灵敏度要求

判断总结

测试项目	是否通过取决于...
BER	是否低于允许的最大误码率（如 1e-5 或 1e-3）
RSSI	是否与信号强度基本匹配（可用于判断天线匹配、损耗）
最终判定	是否满足芯片规格书对 BER 和灵敏度的要求

如果本文介绍对你有帮助，可以一键四连：点赞+评论+收藏+推荐，谢谢！